本文關(guān)鍵詞：光切式標(biāo)準(zhǔn)傷痕深度檢測(cè)裝置的研制

  更多相關(guān)文章： 標(biāo)準(zhǔn)傷痕測(cè)量 光切原理 兩次調(diào)焦 非接觸測(cè)量

【摘要】：目的:高精度無(wú)損探傷儀器需要通過(guò)標(biāo)準(zhǔn)傷痕試塊實(shí)現(xiàn)量值溯源,由于缺乏專門的儀器,深窄槽形傷痕的深度測(cè)量是一大難點(diǎn)。為了解決這一難點(diǎn),基于光切原理,研制了一臺(tái)非接觸式的標(biāo)準(zhǔn)傷痕深度檢測(cè)裝置。方法:將光切圖像用于瞄準(zhǔn),采用兩次調(diào)焦及兩次瞄準(zhǔn)的方法測(cè)量槽深,同時(shí)通過(guò)自編軟件可實(shí)現(xiàn)光帶與基準(zhǔn)線之間瞄準(zhǔn)的自動(dòng)判斷。利用高精度長(zhǎng)度計(jì)作為深度測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)器,通過(guò)機(jī)械設(shè)計(jì)和裝校使深度測(cè)量符合阿貝原則,提高測(cè)量精度。結(jié)果:裝置的深度測(cè)量范圍可達(dá)10 mm,測(cè)量不確定度可達(dá)U=1.5μm(k=2)。結(jié)論:該裝置的研制有效解決了高精度無(wú)損傷痕探測(cè)儀的量值溯源問(wèn)題。經(jīng)過(guò)適當(dāng)?shù)馗倪M(jìn)還可拓展到大型零部件的表面?zhèn)蹤z測(cè),填補(bǔ)大型零部件傷痕現(xiàn)場(chǎng)定量標(biāo)定的空白。
【作者單位】： 上海市計(jì)量測(cè)試技術(shù)研究院;
【關(guān)鍵詞】： 標(biāo)準(zhǔn)傷痕測(cè)量 光切原理 兩次調(diào)焦 非接觸測(cè)量
【基金】：國(guó)家質(zhì)檢總局科技計(jì)劃項(xiàng)目(2011QK099) 上海市質(zhì)量技術(shù)監(jiān)督局科技項(xiàng)目(2011-05)
【分類號(hào)】：TH878
【正文快照】： 0引言無(wú)損檢測(cè)行業(yè)中金屬材質(zhì)的傷痕,一般由超聲、渦流、滲透等原理的儀器設(shè)備,通過(guò)一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)傷痕與相同材質(zhì)的受檢傷痕進(jìn)行比較來(lái)完成檢測(cè)。一般的無(wú)損檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)傷痕試塊作為探傷儀器的附件,精度要求不高。隨著電子行業(yè)的發(fā)展,以及航空、核能等行業(yè)傷痕高精度測(cè)量需求的增多,標(biāo)

【參考文獻(xiàn)】

中國(guó)期刊全文數(shù)據(jù)庫(kù) 前2條

1 陳曉榮,蔡萍,施文康;光學(xué)非接觸三維形貌測(cè)量技術(shù)新進(jìn)展[J];光學(xué)精密工程;2002年05期

2 吳家勇;王平江;陳吉紅;巫孟良;;基于梯度重心法的線結(jié)構(gòu)光中心亞像素提取方法[J];中國(guó)圖象圖形學(xué)報(bào);2009年07期

【共引文獻(xiàn)】

中國(guó)期刊全文數(shù)據(jù)庫(kù) 前10條

1 魯萌萌;陳小娟;;3維光學(xué)測(cè)量系統(tǒng)的建模精度評(píng)定[J];測(cè)繪與空間地理信息;2011年03期

2 朱佳娜;徐曉秋;王燕軍;;基于圖像處理的孔系坐標(biāo)的非接觸測(cè)量系統(tǒng)研究[J];電氣自動(dòng)化;2006年03期

3 范靜濤;韓成;張超;李明勛;白寶興;楊華民;;一種新的De Bruijn彩色結(jié)構(gòu)光解碼技術(shù)研究[J];電子學(xué)報(bào);2012年03期

4 何海濤,陶濤,陳明儀,郭紅衛(wèi);基于調(diào)制度分割的物體輪廓有效測(cè)量區(qū)域自動(dòng)識(shí)別方法[J];光學(xué)精密工程;2004年04期

5 韓建棟;呂乃光;王鋒;婁小平;祝連慶;;采用光學(xué)定位跟蹤技術(shù)的三維數(shù)據(jù)拼接方法[J];光學(xué)精密工程;2009年01期

6 田慶國(guó);葛寶臻;李云鵬;侯培;;利用輪廓線多邊形表示實(shí)時(shí)提取光帶中心線[J];光學(xué)精密工程;2012年06期

7 周燦林;李方;;小波相位解調(diào)輪廓術(shù)[J];光學(xué)技術(shù);2006年04期

8 翁嘉文,鐘金鋼;小波變換在載頻條紋相位分析法中的應(yīng)用研究[J];光學(xué)學(xué)報(bào);2005年04期

9 涂輝;周莉萍;徐龍;;一種基于無(wú)衍射光柵的三角測(cè)量的定標(biāo)方法[J];光學(xué)儀器;2006年01期

10 李興元;肖長(zhǎng)江;孫繼浩;張景超;;雙光路透射法測(cè)量浮法玻璃厚度研究[J];半導(dǎo)體光電;2013年04期

中國(guó)博士學(xué)位論文全文數(shù)據(jù)庫(kù) 前10條

1 韋虎;三維外形測(cè)量系統(tǒng)中的數(shù)據(jù)處理關(guān)鍵技術(shù)研究[D];南京航空航天大學(xué);2010年

2 黃R，

本文編號(hào)：1015780