超稀疏陣列大孔徑場景下最優(yōu)布陣求解問題是在滿足特定副瓣電平要求下,通過對(duì)布陣位置和陣元權(quán)值的優(yōu)化獲得最稀疏解。該問題屬于NP-HARD問題,求解時(shí)存在搜索空間大、搜索時(shí)間長以及難以求得全局最優(yōu)解等問題。為了解決上述問題,本文基于交替尋優(yōu)的思想提出了一種針對(duì)大孔徑場景下超稀疏陣列方向圖綜合的快速算法。該算法通過對(duì)求解空間進(jìn)行劃分后交替優(yōu)化快速得出一個(gè)初始解,在初始解基礎(chǔ)上構(gòu)建相鄰域形成新的求解空間,通過二次搜索尋優(yōu)得到最優(yōu)解。本算法通過對(duì)初始解空間進(jìn)行劃分和相鄰域的構(gòu)建,可大幅縮短每次優(yōu)化的時(shí)間。本文通過對(duì)超稀疏線陣若干場景進(jìn)行了仿真驗(yàn)證,仿真結(jié)果證明了該算法的有效性。

【文章頁數(shù)】：5 頁

【文章目錄】：
0 引言
1 算法原理
2 計(jì)算機(jī)仿真
3 結(jié)束語



本文編號(hào)：3750496