隨著光通信設(shè)備在不同地區(qū)、不同環(huán)境下的廣泛部署,工程中出現(xiàn)了多起由于機(jī)房環(huán)境不合格導(dǎo)致的光模塊硫化腐蝕失效事件,客戶對光模塊在含硫環(huán)境下工作壽命預(yù)估的需求越來越強(qiáng)烈。文章提出了一種應(yīng)用加速硫化腐蝕對光模塊內(nèi)部易腐蝕組件（電阻和磁珠）建立壽命預(yù)估模型的方法,該方法以威布爾分布作為基準(zhǔn)失效函數(shù),以相同環(huán)境應(yīng)力或不同環(huán)境應(yīng)力作為協(xié)變量,利用電阻和磁珠加速硫化腐蝕試驗(yàn)的失效率數(shù)據(jù)進(jìn)行模型參數(shù)估計(jì),對壽命預(yù)估模型進(jìn)行了研究。研究結(jié)果表明,該加速試驗(yàn)結(jié)果與工程失效數(shù)據(jù)吻合,該壽命預(yù)估模型能夠滿足工程中光模塊壽命的預(yù)估需求。 

【文章來源】：光通信研究. 2020,(04)北大核心

【文章頁數(shù)】：6 頁

【部分圖文】：

電阻硫化腐蝕機(jī)理圖

圖2所示為磁珠硫化腐蝕機(jī)理圖,如圖所示,從左至右分別為磁珠腐蝕后的無損X-ray成像圖、切片掃描電子顯微鏡(Scanning Electron Microscope,SEM)成像圖和腐蝕物能量散射型X射線(Energy-Dispersive X-ray Spectroscopy,EDX)成像圖(黃綠色為硫化物)。貼片磁珠的外部由鐵氧體燒結(jié)而成,內(nèi)部使用銀箔作為導(dǎo)體線圈,含硫物可以通過磁珠的鐵氧體燒結(jié)后不致密的小縫隙滲入內(nèi)部,“蠶食”內(nèi)部銀箔電極,導(dǎo)致磁珠的電流電阻(Directive Current Resistance,DCR)變大甚至開路。銀硫化腐蝕的化學(xué)原理為

我們的思想是通過數(shù)學(xué)變換將上述復(fù)雜的關(guān)系轉(zhuǎn)換成線性函數(shù),將失效分析大大簡化。圖3所示為威布爾坐標(biāo)紙示意圖,將式(5)按照概率紙工具在雙對數(shù)坐標(biāo)系下近似簡化為如圖所示的直線。接下來,我們將利用加速壽命試驗(yàn)來確定產(chǎn)品的失效分布規(guī)律,從而進(jìn)一步建立壽命預(yù)估模型用以評估通信電子產(chǎn)品在高硫環(huán)境下的工作壽命。

【參考文獻(xiàn)】：
期刊論文
[1]加速壽命試驗(yàn)及其在電子產(chǎn)品上的應(yīng)用[J]. 王升鴻,丁成功.  智慧工廠. 2019(02)
[2]基于威布爾分布的某電子部件貯存可靠性壽命評估[J]. 陳愿.  電子元器件與信息技術(shù). 2019(01)
[3]三參數(shù)威布爾-幾何分布的統(tǒng)計(jì)分析[J]. 顧蓓青,徐曉嶺,王蓉華.  統(tǒng)計(jì)與決策. 2018(21)
[4]片狀電阻硫化失效機(jī)理及應(yīng)用可靠性研究[J]. 崔斌.  電子產(chǎn)品世界. 2017(07)
[5]元素硫腐蝕研究進(jìn)展[J]. 李金靈,朱世東,屈撐囤,白瑞琴,劉立.  熱加工工藝. 2015(02)
[6]加速壽命試驗(yàn)技術(shù)在國內(nèi)外的工程應(yīng)用研究[J]. 陳兵,李星.  強(qiáng)度與環(huán)境. 2010(06)
[7]威布爾產(chǎn)品加速壽命試驗(yàn)的可靠性分析[J]. 李凌,徐偉.  系統(tǒng)工程與電子技術(shù). 2010(07)
[8]加速壽命試驗(yàn)中修正阿倫尼斯加速因子的研究[J]. 李進(jìn),李傳日.  電子產(chǎn)品可靠性與環(huán)境試驗(yàn). 2009(S1)
[9]加速壽命試驗(yàn)中多應(yīng)力加速模型綜述[J]. 李曉陽,姜同敏.  系統(tǒng)工程與電子技術(shù). 2007(05)
[10]電子元器件加速壽命試驗(yàn)方法的比較[J]. 劉婧,呂長志,李志國,郭春生,馮士維.  半導(dǎo)體技術(shù). 2006(09)



本文編號：3511288