發(fā)布時(shí)間：2021-08-27 08:41

　　為了評(píng)價(jià)平面鏡面形誤差,采用基于條紋反射法的面形檢測(cè)原理、通過(guò)平面鏡法線偏移實(shí)現(xiàn)面形誤差評(píng)價(jià)的方法。將正弦條紋投射至光屏,經(jīng)被測(cè)平面鏡反射至相機(jī),通過(guò)小孔成像原理和四步相移法獲得被測(cè)平面鏡上一點(diǎn)的法線,并與經(jīng)最小二乘算法面形重建的該點(diǎn)理論法線比較,獲得該點(diǎn)法線偏移,利用法線偏移實(shí)現(xiàn)對(duì)平面鏡的面形評(píng)價(jià)。對(duì)測(cè)量方法進(jìn)行計(jì)算機(jī)仿真,以證明其正確性;搭建實(shí)驗(yàn)測(cè)量系統(tǒng),并對(duì)某一款手機(jī)屏幕進(jìn)行測(cè)量實(shí)驗(yàn)。結(jié)果表明,該測(cè)量方法的重復(fù)性精度優(yōu)于1mrad,測(cè)量重復(fù)性高。該研究為玻璃面板等具有高反射特性的平面面形誤差提供了參考。 

【文章來(lái)源】：激光技術(shù). 2020,44(06)北大核心CSCD

【文章頁(yè)數(shù)】：6 頁(yè)

【文章目錄】：
引 言
1 系統(tǒng)測(cè)量原理
    1.1 P,M,T點(diǎn)坐標(biāo)求解
    1.2 各坐標(biāo)系與世界坐標(biāo)系關(guān)系求解
    1.3 法線偏差評(píng)價(jià)面形
2 仿真驗(yàn)證結(jié)果與實(shí)驗(yàn)結(jié)果
    2.1 仿真驗(yàn)證結(jié)果
    2.2 實(shí)驗(yàn)裝置搭建
    2.3 實(shí)驗(yàn)測(cè)量結(jié)果
3 結(jié) 論


【參考文獻(xiàn)】：
期刊論文
[1]條紋投影動(dòng)態(tài)3維測(cè)量中相位高精度估計(jì)[J]. 閆乾宏,李勇,江溢騰,黃凱,周星燦,陳曉鵬.  激光技術(shù). 2019(05)
[2]基于法線追跡原理的新型高精度面形檢測(cè)系統(tǒng)[J]. 彭川黔,何玉梅,王劼.  核技術(shù). 2017(09)
[3]基于S變換的改進(jìn)窗口傅里葉三維測(cè)量法[J]. 董富強(qiáng),達(dá)飛鵬,黃昊.  光學(xué)學(xué)報(bào). 2012(05)
[4]單目視覺(jué)下基于對(duì)偶四元數(shù)的運(yùn)動(dòng)目標(biāo)位姿確定[J]. 馮國(guó)虎,章大勇,吳文啟.  武漢大學(xué)學(xué)報(bào)(信息科學(xué)版). 2010(10)



本文編號(hào)：3366028