當(dāng)前高速、高頻、高密度化成為電子線路發(fā)展的重要趨勢(shì)。信號(hào)的時(shí)鐘和頻率越來越高,信號(hào)的帶寬已經(jīng)從納秒級(jí)進(jìn)入皮秒級(jí),信號(hào)頻段從GHz級(jí)進(jìn)入THz級(jí)。在高速電路中,信號(hào)頻率提高、上升時(shí)間減小、擺幅降低、互連通道不理想、供電環(huán)境惡劣、通道之間延時(shí)不一致等因素可能導(dǎo)致信號(hào)在傳輸過程中失配、信號(hào)失真等問題,由此帶來的突出問題成為武器裝備電子系統(tǒng)設(shè)計(jì)成敗的關(guān)鍵因素。因此需要建立有效的建模仿真方法、測(cè)試技術(shù),提供有力的產(chǎn)品測(cè)試手段和設(shè)備。本課題正是針對(duì)上述問題,從雙通道差分TDR特性阻抗分析儀的波形處理技術(shù)入手,重點(diǎn)研究和實(shí)現(xiàn)了時(shí)基漂移補(bǔ)償算法、時(shí)基抖動(dòng)補(bǔ)償算法以及基于反卷積算法的信號(hào)重構(gòu)。本論文的具體研究?jī)?nèi)容如下:第一、研究時(shí)基漂移補(bǔ)償技術(shù)。首先從理論的角度分析了抑制漂移誤差所使用的互相關(guān)法和等比法及其優(yōu)缺點(diǎn),發(fā)現(xiàn)等比法的計(jì)算復(fù)雜度以及實(shí)現(xiàn)難易程度均低于互相關(guān)法。其次通過泰克示波器DSA8200采集多組含有時(shí)基漂移的實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù),并使用matlab軟件對(duì)兩種補(bǔ)償方法進(jìn)行了實(shí)驗(yàn)驗(yàn)證,發(fā)現(xiàn)等比法和互相關(guān)法對(duì)于時(shí)基漂移的補(bǔ)償都起得很好的效果,并且等比法要略優(yōu)于互相關(guān)法。第二、研究時(shí)基抖動(dòng)補(bǔ)償技術(shù)。首先對(duì)抑制時(shí)... 

【文章來源】：電子科技大學(xué)四川省 211工程院校 985工程院校 教育部直屬院校

【文章頁數(shù)】：75 頁

【學(xué)位級(jí)別】：碩士

【部分圖文】：

三臺(tái)相同型號(hào)的TektronixDSA8300測(cè)試結(jié)果

電子科技大學(xué)碩士學(xué)位論文80002(1)(1)ZZZVVVVVVZZZZ測(cè)量反射入射入射入射入射(2-6)其中0V2V測(cè)量入射，故可以得到v-t趨勢(shì)變化圖如下圖2-2所示。圖2-2v-t趨勢(shì)變化圖2）-t趨勢(shì)變化圖：階躍脈沖發(fā)出后，反射系數(shù)在時(shí)間軸上的變化趨勢(shì)。根據(jù)公式（2-7）可以得到。00-1<=1VZZVZZ反射入射(2-7)由上式（2-7）可以得到-t趨勢(shì)變化圖如下圖2-3所示。圖2-3-t趨勢(shì)變化圖3）z-t趨勢(shì)變化圖：皮秒階躍脈沖發(fā)生器在脈沖信號(hào)發(fā)出之后，特性阻抗值隨著時(shí)間的變化而發(fā)生變化。具體計(jì)算公式如下：011ZZ(2-8)由上式（2-8）可以得到z-t趨勢(shì)變化圖如下圖2-4所示。

電子科技大學(xué)碩士學(xué)位論文80002(1)(1)ZZZVVVVVVZZZZ測(cè)量反射入射入射入射入射(2-6)其中0V2V測(cè)量入射，故可以得到v-t趨勢(shì)變化圖如下圖2-2所示。圖2-2v-t趨勢(shì)變化圖2）-t趨勢(shì)變化圖：階躍脈沖發(fā)出后，反射系數(shù)在時(shí)間軸上的變化趨勢(shì)。根據(jù)公式（2-7）可以得到。00-1<=1VZZVZZ反射入射(2-7)由上式（2-7）可以得到-t趨勢(shì)變化圖如下圖2-3所示。圖2-3-t趨勢(shì)變化圖3）z-t趨勢(shì)變化圖：皮秒階躍脈沖發(fā)生器在脈沖信號(hào)發(fā)出之后，特性阻抗值隨著時(shí)間的變化而發(fā)生變化。具體計(jì)算公式如下：011ZZ(2-8)由上式（2-8）可以得到z-t趨勢(shì)變化圖如下圖2-4所示。


本文編號(hào)：3352144