發(fā)布時(shí)間：2018-08-23 19:50

【摘要】：薄膜晶體管液晶顯示器(TFT-LCD)產(chǎn)業(yè)發(fā)展迅速,目前已經(jīng)成功取代了CRT顯示器。其中對(duì)面板進(jìn)行缺陷檢測(cè)是TFT-LCD生產(chǎn)線上重要的一部分,由于TFT-LCD面板結(jié)構(gòu)復(fù)雜,生產(chǎn)流程多,要求無(wú)塵的生產(chǎn)環(huán)境等各種因素,不可避免的會(huì)產(chǎn)生各種缺陷,在各種缺陷中點(diǎn)線缺陷所占的比例最高,所以研究對(duì)點(diǎn)線缺陷的檢測(cè)技術(shù)具有重要的意義。論文在研究TFT-LCD面板結(jié)構(gòu)及顯示原理的基礎(chǔ)上,針對(duì)TFT-LCD面板表面圖像具有重復(fù)性的紋理背景的特點(diǎn),首先研究了抑制紋理背景的算法,通過(guò)抑制紋理背景進(jìn)行重構(gòu)圖像,最后研究對(duì)重構(gòu)圖中缺陷區(qū)域分割的算法和提取缺陷特征的算法,并對(duì)各種算法進(jìn)行實(shí)驗(yàn)分析。主要對(duì)以下幾點(diǎn)進(jìn)行了研究:(1)研究了TFT-LCD面板的結(jié)構(gòu)、生產(chǎn)流程和顯示原理,對(duì)點(diǎn)線缺陷的產(chǎn)生原因進(jìn)行分析,并對(duì)點(diǎn)線缺陷進(jìn)行了分類(lèi),最后列出了常見(jiàn)的點(diǎn)線缺陷,為下面進(jìn)行缺陷檢測(cè)算法研究打下基礎(chǔ)。(2)通過(guò)研究缺陷檢測(cè)圖像處理的算法,并針對(duì)點(diǎn)線缺陷的特點(diǎn),主要對(duì)以下兩種算法進(jìn)行了研究:一是在頻域中處理的二維傅里葉變換法;二是在時(shí)域中處理的奇異值分解法,最后對(duì)兩種算法進(jìn)行對(duì)比分析并實(shí)驗(yàn)驗(yàn)證。(3)提出了結(jié)合雙邊濾波的加權(quán)模板差影檢測(cè)算法。提出的加權(quán)模板差影法處理可以消除亮度不均勻的影響,在實(shí)際生產(chǎn)中由于相機(jī)對(duì)焦等問(wèn)題進(jìn)行差影處理后可能會(huì)有殘余的紋理背景點(diǎn),針對(duì)此問(wèn)題采用雙邊濾波進(jìn)行去除。對(duì)紋理背景抑制后圖像采用最大熵法分割缺陷區(qū)域,最后對(duì)分割的缺陷區(qū)域的特點(diǎn)進(jìn)行特征提取。(4)用所提算法對(duì)不同的點(diǎn)線缺陷樣本圖進(jìn)行實(shí)驗(yàn),從實(shí)驗(yàn)效果、處理時(shí)間和對(duì)亮度不均勻是否敏感方面進(jìn)行比較分析,驗(yàn)證了本文提出的算法能有效地檢測(cè)出缺陷并提取出相關(guān)參數(shù)。
[Abstract]:Thin film transistor liquid crystal display (TFT-LCD) industry is developing rapidly, and it has successfully replaced CRT display. Defect detection of TFT-LCD panel is an important part of TFT-LCD production line. In this paper, based on the study of the structure and display principle of TFT-LCD panel, the algorithm of restraining texture background is studied firstly, aiming at the feature that the surface image of TFT-LCD panel has repetitive texture background. Restraining texture background to reconstruct the image, the algorithm of defect region segmentation and defect feature extraction in the reconstructed image are studied, and various algorithms are analyzed experimentally. The main research points are as follows: (1) The structure, production process and display principle of TFT-LCD panel are studied, and the causes of dot-line defects are analyzed. This paper analyzes and classifies the point and line defects, and lists the common point and line defects, which lays a foundation for the following defect detection algorithm research. (2) By studying the algorithm of defect detection image processing, and aiming at the characteristics of point and line defects, the following two algorithms are mainly studied: one is the two-dimensional Fourier transform processed in the frequency domain. (3) A weighted template difference detection algorithm combined with bilateral filtering is proposed. The proposed weighted template difference method can eliminate the influence of uneven brightness and make difference in actual production due to camera focusing and other problems. After the texture background is suppressed, the defect area is segmented by maximum entropy method. Finally, the feature of the defect area is extracted. (4) Experiments are carried out on different defect sample images with the proposed algorithm. The processing time and the sensitivity to the non-uniformity of brightness are compared and analyzed. The results show that the proposed algorithm can effectively detect the defects and extract the relevant parameters.
【學(xué)位授予單位】：合肥工業(yè)大學(xué)
【學(xué)位級(jí)別】：碩士
【學(xué)位授予年份】：2017
【分類(lèi)號(hào)】：TN873.93;TP391.41

【參考文獻(xiàn)】

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1 張騰達(dá);盧榮勝;黨學(xué)明;;TFT-LCD表面缺陷檢測(cè)中一維DFT方法中鄰域r的自動(dòng)選取[J];中國(guó)機(jī)械工程;2016年21期

2 簡(jiǎn)川霞;;TFT-LCD表面缺陷檢測(cè)方法綜述[J];電視技術(shù);2015年09期

3 張佳;;一種基于像素點(diǎn)TFT-LCD的點(diǎn)線缺陷的檢測(cè)方法[J];科技創(chuàng)業(yè)月刊;2014年11期

4 王新新;徐江偉;鄒偉金;劉永豐;王秀麗;;TFT-LCD缺陷檢測(cè)系統(tǒng)的研究[J];電子測(cè)量與儀器學(xué)報(bào);2014年03期

5 陳曉丹;李思明;;圖像分割研究進(jìn)展[J];現(xiàn)代計(jì)算機(jī)(專(zhuān)業(yè)版);2013年33期

6 楊小鹿;;二維Otsu閾值分割算法的改進(jìn)[J];計(jì)算機(jī)光盤(pán)軟件與應(yīng)用;2013年12期

7 朱光;朱學(xué)芳;張華坤;;復(fù)雜背景下TFT-LCD表面缺陷檢測(cè)系統(tǒng)的設(shè)計(jì)[J];電子測(cè)量與儀器學(xué)報(bào);2011年12期

8 劉毅;鄭學(xué)仁;;液晶屏顯示缺陷自動(dòng)檢測(cè)系統(tǒng)的設(shè)計(jì)[J];微計(jì)算機(jī)信息;2008年19期

9 黃峰茜;陳春曉;姚均營(yíng);;圖像分割方法的研究進(jìn)展[J];中國(guó)醫(yī)療器械信息;2006年12期

10 張龍;余玲玲;劉京南;;一種改進(jìn)的最大熵閾值分割方法[J];電子工程師;2006年11期

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1 畢昕;面向TFT-LCD制程的Mura缺陷機(jī)器視覺(jué)檢測(cè)方法研究[D];上海交通大學(xué);2009年

2 張昱;基于機(jī)器視覺(jué)的TFT-LCD屏mura缺陷檢測(cè)技術(shù)研究[D];哈爾濱工業(yè)大學(xué);2006年

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1 李堅(jiān);抑制斑點(diǎn)噪聲的超聲圖像濾波算法比較研究[D];華南理工大學(xué);2015年

2 李小娟;TFT-LCD面板缺陷分類(lèi)方法研究[D];合肥工業(yè)大學(xué);2015年

3 倪麟;基于Otsu理論的圖像分割算法的研究[D];重慶大學(xué);2013年

4 馮小波;基于機(jī)器視覺(jué)的TFT-LCD點(diǎn)缺陷檢測(cè)系統(tǒng)的研究[D];上海交通大學(xué);2012年

5 黃剛;液晶顯示屏缺陷自動(dòng)檢測(cè)方法的研究[D];南京大學(xué);2012年

6 吳寅;基于機(jī)器視覺(jué)的航空顯示組件LCD缺陷檢測(cè)技術(shù)研究[D];南京航空航天大學(xué);2012年

7 張戈;液晶顯示屏缺陷自動(dòng)檢測(cè)系統(tǒng)的研究[D];南京理工大學(xué);2008年

8 陳勇;基于機(jī)器視覺(jué)的表面缺陷檢測(cè)系統(tǒng)的算法研究及軟件設(shè)計(jì)[D];天津大學(xué);2006年

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本文編號(hào)：2199736