本文選題：平面近場 + 中場測試�。� 參考：《空間電子技術(shù)》2016年06期

【摘要】：研究了平面近場在中場測試距離情況下對方向圖測試結(jié)果的影響。首先,采用理論分析與仿真方法,指出了掃描面積與方向圖置信角度的關(guān)系為θ_(valid)=arctan(L-D/2d),通過實驗驗證了仿真結(jié)果。中場測試對方向圖的影響是環(huán)境與動態(tài)范圍,采用增加放大器及口徑場回推截斷環(huán)境的方式,可很好地改善測試結(jié)果,并通過實驗驗證了方法的正確性。
[Abstract]:The effect of the plane near field on the test results of the opposite direction diagram under the field test distance is studied. Firstly, the relationship between the scan area and the confidence angle of the pattern is pointed out by theoretical analysis and simulation, and the result of simulation is verified by experiments. The influence of the direction diagram of the field test is the environment and the dynamic range. By adding the amplifier and the truncation environment of the aperture field, the test results can be improved very well, and the correctness of the method is verified by experiments.
【作者單位】： 中國空間技術(shù)研究院西安分院;
【基金】：國家科技支撐項目(2014BAK02B00)
【分類號】：TN820

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本文編號：1953829