在動態(tài)光散射測量技術(shù)中,反演顆粒粒度分布需要求解第一類Fredholm積分方程,該方程的求解是一個病態(tài)問題,因此,準確反演多峰顆粒體系顆粒粒度分布是個難題。為了準確的反演多峰顆粒粒度分布,本文在正則化方法的基礎(chǔ)上,通過在目標(biāo)函數(shù)中增加懲罰項以及采用多個不同正則參數(shù)共同作用于正則矩陣進行動態(tài)光散射數(shù)據(jù)反演,主要研究內(nèi)容包括:1.復(fù)懲罰正則化方法的顆粒粒度反演。采用Tikhonov正則化方法與復(fù)懲罰正則化方法對單峰、雙峰以及多峰顆粒體系的單角度與多角度動態(tài)光散射數(shù)據(jù)進行反演。在Tikhonov正則化方法中單個懲罰項的調(diào)節(jié)能力過大或過小,往往會導(dǎo)致反演的雙峰及多峰顆粒粒度分布較差,加入平坦懲罰項,提高了雙峰以及多峰的分辨能力進而使反演結(jié)果更加準確;在正則化反演中增加具有平坦約束功能的懲罰項,可有效消除反演的顆粒粒度分布中出現(xiàn)的毛刺與虛假峰,提高算法的峰值分辨能力和抗噪能力,從而能更好地發(fā)揮多角度動態(tài)光散射技術(shù)測量中、大超細顆粒時具有信息量多的優(yōu)勢,進而實現(xiàn)寬范圍的雙峰及多峰分布顆粒體系的準確測量。2.多參數(shù)正則化方法的顆粒粒度反演。多參數(shù)正則化方法通過截斷奇異值后重構(gòu)的多個不同正則參數(shù)共同作...

【文章頁數(shù)】：70 頁

【學(xué)位級別】：碩士

【文章目錄】：
摘要
ABSTRACT
第一章 緒論
    1.1 研究背景及意義
    1.2 國內(nèi)外發(fā)展?fàn)顩r
    1.3 研究內(nèi)容
    1.4 本章小結(jié)
第二章 復(fù)懲罰正則化的顆粒粒度反演
    2.1 動態(tài)光散射
    2.2 復(fù)懲罰正則化
    2.3 粒度反演的數(shù)值模擬
    2.4 實驗結(jié)果與討論
    2.5 本章小結(jié)
第三章 多參數(shù)正則化的顆粒粒度反演
    3.1 多參數(shù)正則化
    3.2 粒度反演的數(shù)值模擬
    3.3 實驗結(jié)果與討論
    3.4 本章小結(jié)
第四章 加權(quán)復(fù)懲罰正則化的顆粒粒度反演
    4.1 加權(quán)復(fù)懲罰正則化
    4.2 粒度反演的數(shù)值模擬
    4.3 實驗結(jié)果與討論
    4.4 本章小結(jié)
第五章 分段加權(quán)復(fù)懲罰正則化的顆粒粒度反演
    5.1 分段加權(quán)復(fù)懲罰正則化
    5.2 粒度反演的數(shù)值模擬
    5.3 實驗結(jié)果與討論
    5.4 改進正則化方法的比較與分析
    5.5 本章小結(jié)
第六章 結(jié)論與建議
    6.1 結(jié)論
    6.2 建議
參考文獻
在讀期間公開發(fā)表的論文
致謝



本文編號：3963003