提出并設(shè)計(jì)一種基于Pancharatnam-Berry (P-B)相位超表面的二維光學(xué)微分器,并實(shí)現(xiàn)對光學(xué)圖像的二維光學(xué)邊緣檢測.在環(huán)形光柵相位的作用下,該P(yáng)-B相位超表面可將光束的左右旋分量在徑向進(jìn)行分離,在濾除中間重疊部分的線偏振光后,保留下來的光學(xué)信息即為二維光學(xué)微分結(jié)果.同時(shí),通過調(diào)節(jié)該二維光學(xué)微分器的光軸分布函數(shù)可對邊緣信息分辨率進(jìn)行靈活調(diào)控.研究結(jié)果表明,上述P-B相位超表面可用于光學(xué)圖像的二維邊緣信息提取,相比于一維光柵式超表面,該方法得到的邊緣信息更加完整、清晰.可以預(yù)期,這種二維光學(xué)微分器在超快光學(xué)計(jì)算與光學(xué)圖像處理等方面具有重要的潛在應(yīng)用價(jià)值.

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本文編號(hào)：3876470