針對德拜法、粉末衍射法及衍射儀法等測量耗時長的問題,采用能量色散型X射線衍射測定晶體的結構參量.構建了能量色散型X射線衍射實驗系統(tǒng)仿真模型,搭建了實驗系統(tǒng),測量了NaCl和SiO2晶體的結構參量.實測結果與理論值的偏差小于0.3%,測量時間僅1min.

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【文章目錄】：
1 能量色散型X射線衍射的原理
2 系統(tǒng)仿真及設計
3 衍射實驗
    3.1 能量色散型X射線衍射實驗系統(tǒng)
    3.2 實驗結果及討論
4 結論



本文編號：3862867