應(yīng)用冰洲石晶體對雙折射晶體偏光棱鏡消光比受壓應(yīng)力的影響進行實驗研究.結(jié)果表明:壓應(yīng)力會降低冰洲石晶體及所制作棱鏡的消光比,且壓應(yīng)力越大影響越大;在不同的晶體光軸方向加載壓應(yīng)力對消光比的影響略有不同,其中,45°的方向較大,在本文加載壓應(yīng)力的范圍內(nèi),樣品消光比的降低均小于1.0dB. 

【文章來源】：物理實驗. 2020,40(01)

【文章頁數(shù)】：4 頁

【部分圖文】：

測試光路

選用光學(xué)級冰洲石晶體制作成圖2所示的2個長方體待測樣品，用X射線定向儀精確定出晶體光軸．圖2(a）中的晶體光軸方向垂直于aa′bb′面，精度偏差<2′；圖2(b）中的晶體光軸在efgh面內(nèi)且與ef和fg成45°，精度偏差<3′；各面之間的垂直或平行經(jīng)細致研磨和比較測角儀測量，精度偏差<1′．對abcd和a′b′c′d′，efgh和e′f″g′h′面進行光學(xué)拋光，制成平面度<λ/4（λ=632.8nm）、表面質(zhì)量優(yōu)于20/10（美軍標(biāo)）的通光面．圖2(a）形式的樣品制作了2塊（記為1-1與1-2），圖2(b）形式的樣品制作了2塊（記為2-1與2-2）．在制作樣品的過程中，所有樣品的大小尺寸盡量作到一致，拋光后ab,bc,ef與fg為（12.03±0.03)mm,aa′與ee′為14.04mm.3 實驗測試及測試結(jié)果

將表2的數(shù)據(jù)繪制成壓應(yīng)力-消光比的曲線圖，如圖3所示．可見，無論在與晶體光軸成任何角度的方向上加載壓應(yīng)力，冰洲石晶體及棱鏡的的消光比均隨著壓應(yīng)力的增大而減小，即外加壓應(yīng)力使冰洲石晶體及棱鏡的消光比變差，在本實驗加載的壓應(yīng)力范圍內(nèi)，消光比的變化均小于1.0dB．同一晶體不同光軸角的消光比受壓應(yīng)力影響數(shù)據(jù)幾乎相同（曲線近乎重合）．觀察減壓過程中的壓應(yīng)力對消光比影響，光功率數(shù)據(jù)在減壓后2～3s內(nèi)穩(wěn)定，數(shù)據(jù)變化為增壓過程的逆變化，對應(yīng)數(shù)據(jù)基本相似．

【參考文獻】：
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本文編號：3563038