隨著超導科技的迅猛發(fā)展,有關(guān)超導電學器件的研究與應用也在廣泛開展。超導體的約瑟夫森效應及其所對應的太赫茲頻段的振蕩信號使得各種超導器件在太赫茲領域得到廣泛應用。為了詳細表征超導器件的器件物理特性,評估其性能,我們實驗室搭建了本文中的兩套測試系統(tǒng)分別對超導器件微波輻射的幅頻特性與超導器件超導轉(zhuǎn)變過程中物理特性的變化兩個角度進行了測試。太赫茲（terahertz,THz）波是指頻率從1011Hz到1013Hz的電磁波,該波段的電磁波光子能量低并且典型脈寬在皮秒量級,這使得其在通信、雷達、天文、醫(yī)學成像、無損檢測、安全檢查等領域都具有可觀的應用前景。其中,太赫茲檢測技術(shù)與太赫茲輻射源技術(shù)一直是太赫茲領域最重要的研究方向。太赫茲接收機（SIR）一直以來是太赫茲檢測技術(shù)領域最重要的研究方向�；诨镜某獠罱邮諜C架構(gòu),通過檢測待測太赫茲信號與本地振蕩信號混頻后的中頻輸出,可以很好的檢測待測太赫茲信號的頻譜信息。當前的報道中,基于SIR系統(tǒng)的太赫茲信號檢測的信號最窄線寬已經(jīng)可以達到1 Hz,檢測精度非常之高。搭建這樣一套系統(tǒng),對于本實驗室發(fā)展太赫茲檢測技術(shù)、檢測高溫超導BSCCO太赫茲源等樣品的輻... 

【文章來源】：南京大學江蘇省 211工程院校 985工程院校 教育部直屬院校

【文章頁數(shù)】：80 頁

【學位級別】：碩士

【部分圖文】：

圖１－２第一個超導太赫茲集成接收機的基本結(jié)構(gòu)［３４］??“”“”“”

的位移器上，通過控制位移器移動完成對樣品的掃描。??掃描過程中通過記錄樣品電壓的改變量ＡＦ，成像結(jié)果中每一點圖像的顏色??展現(xiàn)出了這一點信號強度的大小。從圖１－４中我們可以看到成像結(jié)果很好的記錄??了樣品發(fā)生超導轉(zhuǎn)變的全過程。??４??

４?＂?５?＊?ｐ?１?ｙ－?＊?＾?４?＇?＂５?＊?ｓ?＂＾７?＊?８??ｆ｜Ｆ?（ＧＨ？）??圖１－３使用ＳＩＲ系統(tǒng)對于ＢＳＣＣＯ太赫茲源的測試頻譜［８０］??１．２低溫掃描顯微鏡系統(tǒng)概述??低溫掃描顯微鏡技術(shù)在觀測超導薄膜元件的局部特性變化上具有很大的作??用。Ａ．?Ｇ．?Ｓｉｖａｋｏｖ［３５］等人于１９９６年首次提出了這項技術(shù)，并被用于超導Ｓｎ薄??膜與Ｂｉ－Ｓｒ－Ｃａ－Ｃｕ－０薄膜樣品的成像。??這套系統(tǒng)使用一個功率為２?ｍＷ的氦氖激光器作為光源，光斑尺寸約為２??ｐｍ。激光波束被一個０－１００ｋＨＺ的正弦信號調(diào)制。位移器的單步位移距離為０．５??ｐｍ，移動范圍ｘ和ｙ方向各１０?ｍｍ。實驗過程中，將激光固定在…個ｘ－ｙ方向??的位移器上，通過控制位移器移動完成對樣品的掃描。??掃描過程中通過記錄樣品電壓的改變量ＡＦ，成像結(jié)果中每一點圖像的顏色??展現(xiàn)出了這一點信號強度的大小。從圖１－４中我們可以看到成像結(jié)果很好的記錄??了樣品發(fā)生超導轉(zhuǎn)變的全過程。??４??


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