本文選題：成像系統(tǒng)　切入點：掃描近場光學(xué)顯微鏡　出處：《激光技術(shù)》2017年04期 　論文類型：期刊論文

【摘要】：為了研究掃描近場光學(xué)顯微鏡(SNOM)光纖探針的光學(xué)特性,采用基于場追跡方法的光學(xué)軟件Virtual Lab Fusion進(jìn)行了仿真實驗,取得了SNOM光學(xué)探針尖端外部光場的分布情況。結(jié)果表明,沿z軸方向,不同截面上的光場分布都會呈現(xiàn)小孔衍射的圖案,其中心斑點中心強(qiáng)度隨著z值的變大而呈近似指數(shù)函數(shù)衰減,到z=100nm位置處幾乎衰減為0;中心斑點輪廓線的半峰全寬隨著z值的變大而呈現(xiàn)先不變后增大的趨勢,其拐點處于z=20nm位置處,此時對應(yīng)的中心強(qiáng)度值為7.2V/m~2,這個強(qiáng)度值按指數(shù)函數(shù)計算正好處于z=0nm位置處強(qiáng)度的e~(-2)。結(jié)果清晰顯示了SNOM光學(xué)探針的光學(xué)特性,證實SNOM探針工作時需要與樣品表面保持在10nm左右的必要性。
[Abstract]:In order to study the optical properties of scanning near-field optical microscope (SNOM) optical probe, the optical software Virtual Lab Fusion based on the field tracing method is used to simulate the optical probe. The distribution of the external light field at the tip of the SNOM optical probe is obtained. Along the z axis, the distribution of light field on different cross sections will present a pattern of diffraction of small holes, and the central strength of the spot decreases with the increase of z value in an approximate exponential function. The full width of the half peak of the central spot contour increases with the increase of z value, and the inflexion point is at 20 nm. The corresponding central strength value is 7.2 V / m ~ (-2), which is calculated by exponential function. The results show clearly the optical properties of the SNOM optical probe. It is proved that it is necessary for the SNOM probe to keep the surface of the sample at about 10 nm when it is working.
【作者單位】： 中國計量大學(xué)計量測試工程學(xué)院;比薩大學(xué)物理系;訊技光電科技(上海)有限公司;
【基金】：國家自然科學(xué)基金資助項目(11404312) 國家留學(xué)基金資助項目(201408330449;201508330071) 浙江省“儀器科學(xué)與技術(shù)”重中之重學(xué)科開放基金資助項目(JL150508) 廣西高校光電信息處理重點實驗室開放基金資助項目(KFJJ2014-03) 廣西自動檢測技術(shù)與儀器重點實驗室開放基金資助項目(YQ15204)
【分類號】：TH742;TN253

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本文編號：1585791