晶體光軸取向和厚度對(duì)雙光楔消偏器性能的影響
本文關(guān)鍵詞: 光學(xué)設(shè)計(jì) 成像光學(xué)系統(tǒng) 米勒矩陣 雙光楔消偏器 出處:《光學(xué)學(xué)報(bào)》2017年08期 論文類(lèi)型:期刊論文
【摘要】:在消偏器工作原理的基礎(chǔ)上,利用米勒矩陣和斯托克斯矢量,建立消偏器結(jié)構(gòu)參數(shù)與光學(xué)系統(tǒng)偏振敏感度的一般關(guān)系。借助數(shù)值分析,當(dāng)兩楔形晶體光軸夾角為90°時(shí),消偏器具有優(yōu)良的消偏性能,并且光軸取向下時(shí)調(diào)整晶體厚度可進(jìn)一步減小光學(xué)系統(tǒng)偏振敏感度。以光柵成像光譜儀為例設(shè)計(jì)消偏器,給出其性能評(píng)價(jià)。
[Abstract]:Based on the working principle of depolarizer, the general relationship between the structure parameters of depolarizer and the polarization sensitivity of optical system is established by using Hans Muller matrix and Stokes vector. When the angle of the optical axis of the two wedge crystals is 90 擄, the depolarizer has excellent depolarization performance. The polarization sensitivity of the optical system can be further reduced by adjusting the crystal thickness under the optical axis orientation. The depolarizer is designed with the grating imaging spectrometer as an example and its performance evaluation is given.
【作者單位】: 蘇州大學(xué)物理與光電·能源學(xué)部教育部現(xiàn)代光學(xué)技術(shù)重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室;蘇州大學(xué)物理與光電.能源學(xué)部江蘇省先進(jìn)光學(xué)制造技術(shù)重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室;
【基金】:國(guó)家重點(diǎn)研發(fā)計(jì)劃(2016YFB0500501) 江蘇高校優(yōu)勢(shì)學(xué)科建設(shè)工程資助項(xiàng)目(PAPD)
【分類(lèi)號(hào)】:O436.3
【正文快照】: 1引言 消偏器能夠消除光學(xué)系統(tǒng)對(duì)入射光偏振態(tài)的敏感性,從而保證測(cè)量準(zhǔn)確度和精度。消偏器的研究由來(lái)已久,最初主要是用于光纖傳感的Lyot型[1],近二三十年來(lái)逐漸發(fā)明可用于成像光譜儀的消偏器,如單光楔型[2]、Lyot改進(jìn)型[3-4]、HV型[5-7]、雙光楔旋光型[8]和雙巴比涅型[9-10]
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本文編號(hào):1471088
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