同步輻射高能X射線衍射在材料研究中的應(yīng)用進(jìn)展
本文關(guān)鍵詞: 同步輻射高能X射線衍射 材料科學(xué) 多尺度表征 形變 相變 出處:《中國材料進(jìn)展》2017年03期 論文類型:期刊論文
【摘要】:同步輻射是具有連續(xù)光譜寬波段、高通量、低發(fā)散度等優(yōu)點(diǎn)的先進(jìn)脈沖X射線光源,可用于開展其它光源無法實(shí)現(xiàn)的諸多前沿科學(xué)研究。第三代同步輻射光源產(chǎn)生的高能X射線,能大幅提高衍射的倒易空間分辨率、穿透深度及時(shí)間分辨能力,實(shí)現(xiàn)使役條件下工程材料與部件內(nèi)部多尺度微結(jié)構(gòu)單元的高效原位、精確無損表征。配備滿足透射幾何條件、能施加多種力物性環(huán)境的原位裝置,有助于建立多場耦合下材料的跨尺度力學(xué)模型。簡述了同步輻射高能X射線衍射的基本原理、第三代同步輻射光源的裝置與特點(diǎn),介紹了高能X射線衍射在材料形變行為、相變以及再結(jié)晶等領(lǐng)域的研究進(jìn)展。最后基于國內(nèi)外先進(jìn)光源的發(fā)展現(xiàn)狀,展望了同步輻射高能X射線衍射技術(shù)進(jìn)步的主要方向。
[Abstract]:Synchrotron radiation (SRR) is an advanced pulse X-ray source with the advantages of continuous spectrum wide band high flux low divergence and so on. The third generation synchrotron radiation source can greatly improve the spatial resolution of diffraction, penetration depth and time resolution. In order to realize the efficient in-situ, accurate and lossless characterization of engineering materials and components in multi-scale microstructural units, the in-situ device which satisfies the transmission geometry conditions and can apply a variety of mechanical and physical properties can be applied to the engineering materials and components. It is helpful to establish a cross-scale mechanical model of materials under multi-field coupling. The basic principle of high-energy X-ray diffraction of synchrotron radiation and the device and characteristics of the third-generation synchrotron radiation light source are briefly described. The research progress of high energy X-ray diffraction in the field of material deformation behavior, phase transition and recrystallization is introduced. Finally, based on the development of advanced light sources at home and abroad. The main progress of synchrotron radiation high energy X-ray diffraction technology is prospected.
【作者單位】: 北京科技大學(xué)新金屬材料國家重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室;
【基金】:國家自然科學(xué)基金資助項(xiàng)目(51471032,51231002,51527801) 中央高;究蒲袠I(yè)務(wù)費(fèi)(06111020,06111040)
【分類號(hào)】:O434.19
【正文快照】: 1前言材料的形變和相變行為是由材料晶體結(jié)構(gòu)與多尺度的微結(jié)構(gòu)單元決定。多尺度的微結(jié)構(gòu)主要包括相組成及分布、晶粒尺寸分布、晶粒取向分布及局域不均勻微觀特征如形變帶等。利用基于同步輻射的高能X射線衍射技術(shù)(High En-ergy X-Ray Diffraction,以下簡稱“HE-XRD”),可以表
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,本文編號(hào):1461034
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