本文關(guān)鍵詞：小尺度表面粗糙度與介質(zhì)吸收對介質(zhì)折射率測量的影響（英文）　出處：《光子學(xué)報(bào)》2017年04期 　論文類型：期刊論文

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【摘要】：將介質(zhì)表面的小尺度粗糙度等效為覆蓋在理想光滑表面上的多層等厚折射率漸變的薄膜,并通過特征矩陣計(jì)算多層等效膜模型的P光反射率與入射角的關(guān)系.將吸收介質(zhì)的折射率虛部帶入菲涅爾公式進(jìn)行計(jì)算.運(yùn)用COMSOL Mutiphysics軟件對表面粗糙度和介質(zhì)吸收進(jìn)行建模和仿真計(jì)算.計(jì)算結(jié)果表明,小尺度表面粗糙度與介質(zhì)吸收都會(huì)導(dǎo)致折射率測量產(chǎn)生誤差.分別考慮以布儒斯特角和全反角作為折射率測量的手段,為了得到優(yōu)于10~(-5)的測量準(zhǔn)確度,測量表面粗糙介質(zhì)的折射率時(shí),采用全反角進(jìn)行判定;測量具有吸收效應(yīng)的介質(zhì)折射率時(shí),采用布儒斯特角進(jìn)行判定.
[Abstract]:The small scale roughness of the dielectric surface is equivalent to a multilayer film with graded refractive index of equal thickness covered on an ideal smooth surface. The relation between P-ray reflectance and incident angle of multilayer equivalent film model is calculated by eigenmatrix. The imaginary refractive index of absorbing medium is introduced into Fresnel formula. COMSOL is used. The surface roughness and medium absorption are modeled and simulated by Mutiphysics software. Small-scale surface roughness and medium absorption will lead to errors in refractive index measurement. Brewster angle and total inverse angle are considered as the means of refractive index measurement respectively. In order to obtain the accuracy of measurement, the total inverse angle is used to determine the refractive index of rough surface medium. When measuring refractive index of medium with absorption effect, Brewster angle is used to judge.
【作者單位】： 國防科學(xué)技術(shù)大學(xué)光電科學(xué)與工程學(xué)院;
【基金】：The Research Project of National University of Defense Technology(No.ZK16-03-21) the National Natural Science Foundation of China(Nos.61205157,61405250)
【分類號(hào)】：O435.1
【正文快照】： Foundation item:The Research Project of National University of Defense Technology(No.ZK16-03-21)and the National Natural ScienceFoundation of China(Nos.61205157,61405250)1-10021400 IntroductionFresnel′s equations give the reflectance R,the transmittance

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本文編號(hào)：1373443