本文關(guān)鍵詞：Zeta電位測量中電場對顆粒粒徑的影響　出處：《中國粉體技術(shù)》2017年01期 　論文類型：期刊論文

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【摘要】：為確定電泳光散射法測量納米顆粒zeta電位過程中電場對顆粒系統(tǒng)性質(zhì)的影響,實(shí)驗(yàn)研究210、360 nm 2種標(biāo)準(zhǔn)顆粒的單分散溶液在通電前、后顆粒粒度的變化;通過測量90°散射角的動態(tài)光散射信號,采用自相關(guān)技術(shù)進(jìn)行信號分析,用累積法反演計(jì)算顆粒的粒徑。結(jié)果表明,顆粒在小電壓的情況下,粒徑幾乎沒有變化;隨著電壓的增大,平均粒徑逐漸增大,說明樣品發(fā)生團(tuán)聚;電壓越大,顆粒團(tuán)聚越快。
【作者單位】： 華南師范大學(xué)
【基金】：國家自然科學(xué)基金項(xiàng)目,編號:61371176 廣東省科技計(jì)劃項(xiàng)目,編號:2013B060100014;2015A030401086
【分類號】：TB383.1;O436.2
【正文快照】： 顆粒的zeta電位是指顆粒剪切面的電位,又叫電動電位或電動電勢,它是表征膠體分散系穩(wěn)定性的重要指標(biāo)[1]。在陶瓷、釀造、制藥、水處理和礦物處理等各個顆粒應(yīng)用行業(yè)中都需要測量zeta電位,zeta電位的大小直接影響產(chǎn)品的性能[2]。測量zeta電位的方法有顯微鏡法、篩分法、沉降法

【相似文獻(xiàn)】

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1 鄭忠;;電泳光散射[J];化學(xué)通報(bào);1986年02期

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本文編號：1317138