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基于波長調(diào)制的離軸積分腔輸出光譜技術

發(fā)布時間:2017-12-18 05:30

  本文關鍵詞:基于波長調(diào)制的離軸積分腔輸出光譜技術


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【摘要】:介紹了基于波長調(diào)制的離軸積分腔輸出光譜(WM-OA-ICOS)技術的實驗裝置。使用1.392μm的分布反饋式(DFB)激光器作為光源,以反射率為99.8%、相距60cm的兩片鏡片組成的諧振腔為氣體吸收池,選擇7185.87cm~(-1)的CH_4吸收譜線,對不同濃度的CH_4氣體進行探測。通過優(yōu)化壓力、調(diào)制頻率、相位和振幅等參數(shù),并結合Allan方差,得出系統(tǒng)的穩(wěn)定時間為203s。實驗選取100s的測量時間,得出CH_4氣體的探測極限為8.7×10~(-7),相應的最小的可探測吸收為2.2×10~(-6) Hz~(-1/2)。相對于離軸積分腔輸出光譜技術,WM-OA-ICOS技術的靈敏度約提高了21倍。采用二次諧波峰值高度(2f)以及二次諧波峰值高度與一次諧波中值之比(2f/1f)兩種方法測量CH_4氣體濃度,結果發(fā)現(xiàn),2f/1f方法的穩(wěn)定性更好,線性度更高。
【作者單位】: 南昌航空大學江西省光電檢測技術工程實驗室;南昌航空大學無損檢測與光電傳感技術及應用國家地方聯(lián)合工程實驗室;
【基金】:國家自然科學基金(41265011) 江西省研究生創(chuàng)新專項資金(YC2015-S330) 人社部留學人員科技活動項目擇優(yōu)資助項目
【分類號】:O433
【正文快照】: 1 引言 隨著半導體激光光源的發(fā)展,在通信波段內(nèi)將近紅外連續(xù)半導體激光器作為光源測量痕量氣體的研究受到了越來越多的關注。結構簡單、體積小、靈敏度高、易于操作的實驗裝置一直是研究者不斷追求的目標。1988年,O’Keefe等[1]首次實現(xiàn)了腔衰蕩吸收光譜(CRDS)技術,在有限體

【相似文獻】

中國期刊全文數(shù)據(jù)庫 前10條

1 劉玉梁;汪輝;王若楨;;波長調(diào)制光譜實驗技術的研究[J];北京師范大學學報(自然科學版);1990年03期

2 趙建華;高明亮;武秀娟;;波長調(diào)制光譜技術中的激光控制器設計[J];激光與紅外;2010年05期

3 李晗;劉建國;闞瑞峰;姚路;許振宇;陳玖英;袁松;魏敏;;波長調(diào)制光譜測量系統(tǒng)中的數(shù)字化相敏檢測實現(xiàn)[J];中國激光;2013年11期

4 韓文念;汪f,

本文編號:1303012


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