本文關(guān)鍵詞：雷達(dá)接收機(jī)下變頻組合自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)的設(shè)計(jì)與實(shí)現(xiàn)

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【摘要】：某型號(hào)雷達(dá)接收機(jī)下變頻組合是某武器分系統(tǒng)的重要組成部分,主要起到微波信號(hào)處理與轉(zhuǎn)接的功能。一旦雷達(dá)接收機(jī)下變頻組合出現(xiàn)問(wèn)題,直接影響到信號(hào)的正確接收,導(dǎo)致武器無(wú)法精確打擊目標(biāo)。雷達(dá)接收機(jī)下變頻組合自動(dòng)測(cè)試設(shè)備針對(duì)接收機(jī)下變頻組合進(jìn)行高效自動(dòng)測(cè)試,為其研制和生產(chǎn)提供保障,適用于專業(yè)室設(shè)備研制過(guò)程中不同的測(cè)試環(huán)境。本文從測(cè)試需求出發(fā),進(jìn)而以測(cè)試的角度對(duì)雷達(dá)接收機(jī)下變頻組合測(cè)試系統(tǒng)進(jìn)行分析,對(duì)測(cè)試需求進(jìn)行如下分類:測(cè)試系統(tǒng)供電、通用測(cè)量?jī)x器程控、數(shù)據(jù)報(bào)表導(dǎo)出等。為了便于測(cè)試系統(tǒng)維護(hù),根據(jù)測(cè)量要求提出硬件以GPIB、PXI為總線平臺(tái)、軟件以Lab Windows/CVI為開發(fā)平臺(tái)的雷達(dá)接收機(jī)下變頻組合測(cè)試系統(tǒng)總體方案。本文給出了自主研發(fā)的電源與控制CPCI板卡、本振源控制CPCI板卡各功能模塊的詳細(xì)設(shè)計(jì)方案。根據(jù)正負(fù)電源供電驅(qū)動(dòng)能力不同的要求,設(shè)計(jì)了不同的電壓轉(zhuǎn)換方案;根據(jù)對(duì)輸出電壓、電流進(jìn)行監(jiān)視的需求,設(shè)計(jì)完成了監(jiān)測(cè)電壓和電流的數(shù)據(jù)采集方案;根據(jù)被測(cè)設(shè)備對(duì)控制信號(hào)的需求,設(shè)計(jì)完成了多路TTL控制信號(hào)的產(chǎn)生方案。本文以Lab Windows/CVI作為軟件開發(fā)平臺(tái),利用VISA對(duì)自研CPCI板卡的驅(qū)動(dòng)程序進(jìn)行開發(fā);依托于Access數(shù)據(jù)庫(kù)對(duì)噪聲、增益、幅度一致性、通道隔離度、衰減度、鄰域抑制、帶外抑制等參數(shù)的分析、處理與存儲(chǔ);利用Active X自動(dòng)化技術(shù)實(shí)現(xiàn)了三種復(fù)雜樣式word報(bào)表的導(dǎo)出功能;采用模塊化的編程思想,完成了穩(wěn)定可靠、功能全面、界面友好、易于操作的人機(jī)交互界面。雷達(dá)接收機(jī)下變頻組合自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)已經(jīng)應(yīng)用與產(chǎn)品的測(cè)試,實(shí)踐證明,此測(cè)試系統(tǒng)能夠良好的完成對(duì)雷達(dá)接收機(jī)下變頻組合的測(cè)試,性能滿足各項(xiàng)指標(biāo),小型化、便攜化、高效的測(cè)試設(shè)備,使測(cè)試過(guò)程變得更加便捷、高效。
【關(guān)鍵詞】：雷達(dá)接收機(jī)下變頻組合 專用自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng) PXI與LXI混合總線 PXI便攜式測(cè)試
【學(xué)位授予單位】：哈爾濱工業(yè)大學(xué)
【學(xué)位級(jí)別】：碩士
【學(xué)位授予年份】：2015
【分類號(hào)】：TN957.5;TP274
【目錄】：

• 摘要4-5
• Abstract5-10
• 第1章 緒論10-15
• 1.1 課題來(lái)源和研究目的及意義10
• 1.2 雷達(dá)接收機(jī)自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)的研究現(xiàn)狀10-13
• 1.2.1 自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)概述10-11
• 1.2.2 自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)發(fā)展階段過(guò)程11-12
• 1.2.3 雷達(dá)接收機(jī)自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)在國(guó)內(nèi)外的應(yīng)用12-13
• 1.3 主要研究?jī)?nèi)容及論文結(jié)構(gòu)13-15
• 第2章 系統(tǒng)總體方案設(shè)計(jì)15-28
• 2.1 測(cè)試系統(tǒng)需求分析15-19
• 2.1.1 硬件需求分析16-18
• 2.1.2 軟件需求分析18-19
• 2.2 系統(tǒng)硬件總體方案設(shè)計(jì)19-25
• 2.2.1 PXI機(jī)箱及控制器選型20-21
• 2.2.2 GPIB接口卡選型21-22
• 2.2.3 電源與控制模塊設(shè)計(jì)方案22-24
• 2.2.4 本振源控制模塊設(shè)計(jì)方案24-25
• 2.3 系統(tǒng)軟件總體方案設(shè)計(jì)25-27
• 2.3.1 軟件開發(fā)平臺(tái)選擇25
• 2.3.2 軟件方案設(shè)計(jì)25-27
• 2.4 本章小結(jié)27-28
• 第3章 系統(tǒng)硬件關(guān)鍵模塊設(shè)計(jì)28-41
• 3.1 電源與控制CPCI板卡設(shè)計(jì)28-37
• 3.1.1 FPGA主控模塊設(shè)計(jì)28-31
• 3.1.2 CPCI接口電路設(shè)計(jì)31-32
• 3.1.3 電壓轉(zhuǎn)換及電源輸出控制電路設(shè)計(jì)32-33
• 3.1.4 數(shù)據(jù)采集電路設(shè)計(jì)33-35
• 3.1.5 電流轉(zhuǎn)換電壓電路設(shè)計(jì)35-36
• 3.1.6 TTL控制信號(hào)產(chǎn)生電路36-37
• 3.2 本振源控制CPCI板卡設(shè)計(jì)37-40
• 3.2.1 FPGA主控模塊37-39
• 3.2.2 本振源模塊39-40
• 3.3 本章小結(jié)40-41
• 第4章 系統(tǒng)軟件設(shè)計(jì)41-60
• 4.1 測(cè)試軟件設(shè)計(jì)綜述41-43
• 4.2 基于VISA的CPCI板卡驅(qū)動(dòng)程序設(shè)計(jì)43-45
• 4.3 測(cè)試軟件界面設(shè)計(jì)45-50
• 4.3.1 軟件主界面45-46
• 4.3.2 儀器配置及儀器初始化界面46-47
• 4.3.3 手動(dòng)測(cè)試界面47
• 4.3.4 自動(dòng)測(cè)試界面47-49
• 4.3.5 數(shù)據(jù)處理及回放界面49-50
• 4.4 相關(guān)微波參數(shù)測(cè)量流程50-58
• 4.4.1 噪聲及增益的測(cè)量50-51
• 4.4.2 幅度一致性的測(cè)量51-52
• 4.4.3 通道隔離度的測(cè)量52-53
• 4.4.4 衰減度的測(cè)量53-54
• 4.4.5 鄰域抑制的測(cè)量54-55
• 4.4.6 帶外抑制的測(cè)量55-57
• 4.4.7 瞬時(shí)動(dòng)態(tài)范圍的測(cè)量57
• 4.4.8 800MHz帶寬平坦度的測(cè)量57-58
• 4.5 測(cè)試軟件數(shù)據(jù)庫(kù)設(shè)計(jì)58-59
• 4.6 本章小結(jié)59-60
• 第5章 系統(tǒng)調(diào)試及驗(yàn)證60-70
• 5.1 系統(tǒng)調(diào)試綜述60
• 5.2 CPCI板卡功能模塊調(diào)試60-65
• 5.2.1 CPCI接口模塊驗(yàn)證60-61
• 5.2.2 加電控制指標(biāo)驗(yàn)證61-63
• 5.2.3 TTL電平控制信號(hào)驗(yàn)證63-64
• 5.2.4 本振頻率源參數(shù)驗(yàn)證64-65
• 5.3 測(cè)試系統(tǒng)聯(lián)調(diào)65-69
• 5.3.1 測(cè)試系統(tǒng)搭建65
• 5.3.2 標(biāo)準(zhǔn)儀器程控功能驗(yàn)證65-67
• 5.3.3 測(cè)試流程聯(lián)調(diào)67-69
• 5.4 本章小結(jié)69-70
• 結(jié)論70-71
• 參考文獻(xiàn)71-77
• 致謝77-78
• 個(gè)人簡(jiǎn)介78

【參考文獻(xiàn)】

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本文編號(hào)：849843