發(fā)布時(shí)間：2017-05-18 14:22

  本文關(guān)鍵詞：相控陣?yán)走_(dá)天線電性能測(cè)試平臺(tái)設(shè)計(jì)與實(shí)現(xiàn)，，由筆耕文化傳播整理發(fā)布。

【摘要】：目前相控陣?yán)走_(dá)天線已廣泛應(yīng)用于軍事、民用等多種雷達(dá)系統(tǒng)中。由于相控陣?yán)走_(dá)天線的廣泛應(yīng)用,相控陣?yán)走_(dá)天線測(cè)試項(xiàng)目多、任務(wù)量大,使得相控陣?yán)走_(dá)天線的電性能測(cè)試工作時(shí)間長(zhǎng)、難度高。相控陣?yán)走_(dá)天線電性能測(cè)試平臺(tái)建設(shè)成為雷達(dá)天線研制機(jī)構(gòu)廣泛開(kāi)展的工作。本文首先對(duì)課題研究背景和國(guó)內(nèi)外相控陣?yán)走_(dá)天線及測(cè)試技術(shù)研究概況及現(xiàn)狀進(jìn)行了闡述。描述了相控陣?yán)走_(dá)天線指標(biāo)體系,結(jié)合相控陣?yán)走_(dá)天線的各部分組成描述了天線的設(shè)計(jì)流程,介紹了相控陣天線的測(cè)試步驟和測(cè)試方法,最后采用集成天線采碼、中場(chǎng)校準(zhǔn)、近場(chǎng)掃描方向圖測(cè)試系統(tǒng)建立了相控陣?yán)走_(dá)測(cè)試系統(tǒng),從系統(tǒng)的硬件構(gòu)成、場(chǎng)地設(shè)計(jì)、工作原理、軟件流程進(jìn)行了介紹。本文介紹的硬件系統(tǒng)中采用二維平面掃描架、矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀、系統(tǒng)控制器作為采碼、校準(zhǔn)、近場(chǎng)測(cè)試的主要設(shè)備。主控計(jì)算機(jī)通過(guò)LAN/USB/COM等接口協(xié)議將各設(shè)備連接在一起協(xié)調(diào)工作。軟件系統(tǒng)是將天線采碼、校準(zhǔn)、近場(chǎng)方向圖測(cè)試過(guò)程利用Ⅵ技術(shù)整合成一個(gè)完整系統(tǒng)的軟件。實(shí)現(xiàn)測(cè)試數(shù)據(jù)共享、硬件設(shè)備共享,提高測(cè)試效率、精度、設(shè)備使用率,實(shí)現(xiàn)了方便、高效、完整的相控陣?yán)走_(dá)天線電性能測(cè)試。本系統(tǒng)具備相控陣天線各指標(biāo)參數(shù)的測(cè)試數(shù)據(jù)采集、顯示、保存和分析處理能力,能夠繪制相控陣天線遠(yuǎn)場(chǎng)方向圖、近場(chǎng)幅度相位分布圖,能夠根據(jù)各種要求完成測(cè)試報(bào)告自動(dòng)生成,測(cè)試精度高、自動(dòng)化能力強(qiáng),能夠滿足相控陣?yán)走_(dá)天線測(cè)試要求。
【關(guān)鍵詞】：相控陣?yán)走_(dá)天線 中場(chǎng)校準(zhǔn) 近場(chǎng)測(cè)試 LabVIEW
【學(xué)位授予單位】：大連理工大學(xué)
【學(xué)位級(jí)別】：碩士
【學(xué)位授予年份】：2015
【分類號(hào)】：TN958.92
【目錄】：

• 摘要4-5
• Abstract5-8
• 1 緒論8-16
• 1.1 研究背景及意義8
• 1.2 國(guó)內(nèi)外相控陣?yán)走_(dá)天線及測(cè)試技術(shù)研究概況及現(xiàn)狀8-14
• 1.3 論文的內(nèi)容及結(jié)構(gòu)14-16
• 2 相控陣?yán)走_(dá)天線設(shè)計(jì)16-24
• 2.1 相控陣?yán)走_(dá)天線基本原理16-19
• 2.1.1 相控陣?yán)走_(dá)天線性能參數(shù)16-18
• 2.1.2 相控陣?yán)走_(dá)天線設(shè)計(jì)過(guò)程18-19
• 2.2 相控陣?yán)走_(dá)天線設(shè)計(jì)19-24
• 2.2.1 相控陣?yán)走_(dá)天線輻射陣面設(shè)計(jì)19-21
• 2.2.2 相控陣?yán)走_(dá)天線饋電網(wǎng)絡(luò)設(shè)計(jì)21
• 2.2.3 相控陣?yán)走_(dá)天線TR組件設(shè)計(jì)21-22
• 2.2.4 相控陣?yán)走_(dá)天線波控器設(shè)計(jì)22-24
• 3 相控陣?yán)走_(dá)天線電性能測(cè)試原理24-33
• 3.1 天線采碼測(cè)試24-25
• 3.2 天線校準(zhǔn)測(cè)試25-27
• 3.3 天線近場(chǎng)掃描方向圖測(cè)試27-33
• 3.3.1 近場(chǎng)掃描測(cè)試?yán)碚?/span>27-31
• 3.3.2 發(fā)射模式脈沖測(cè)試31-33
• 4 相控陣?yán)走_(dá)天線電性能測(cè)試硬件系統(tǒng)33-44
• 4.1 測(cè)試系統(tǒng)硬件組成及系統(tǒng)指標(biāo)33-37
• 4.1.1 采碼子系統(tǒng)組成33-35
• 4.1.2 近場(chǎng)方向圖測(cè)試系統(tǒng)組成35-36
• 4.1.3 校準(zhǔn)子系統(tǒng)組成36-37
• 4.1.4 系統(tǒng)指標(biāo)37
• 4.2 系統(tǒng)測(cè)試場(chǎng)地設(shè)計(jì)37-39
• 4.2.1 天線測(cè)試暗室設(shè)計(jì)要求37-38
• 4.2.2 場(chǎng)地設(shè)計(jì)38-39
• 4.3 硬件系統(tǒng)設(shè)計(jì)39-44
• 4.3.1 硬件設(shè)備配置39-43
• 4.3.2 硬件系統(tǒng)框架43-44
• 5 相控陣?yán)走_(dá)天線電性能測(cè)試軟件系統(tǒng)44-58
• 5.1 LabVIEW簡(jiǎn)介44-45
• 5.2 相控陣?yán)走_(dá)天線需求分析45-47
• 5.2.1 相控線天線測(cè)試項(xiàng)目45-46
• 5.2.2 相控線天線測(cè)試軟件需求分析46-47
• 5.3 軟件系統(tǒng)設(shè)計(jì)與實(shí)現(xiàn)47-58
• 5.3.1 系統(tǒng)功能及架構(gòu)47-49
• 5.3.2 軟件設(shè)計(jì)49-53
• 5.3.3 數(shù)據(jù)管理53-55
• 5.3.4 處理算法55-58
• 結(jié)論58-60
• 參考文獻(xiàn)60-61
• 致謝61-62

【共引文獻(xiàn)】

中國(guó)碩士學(xué)位論文全文數(shù)據(jù)庫(kù) 前4條

1 張鈺;DBF陣列幅相誤差校準(zhǔn)及其穩(wěn)健性算法[D];南京理工大學(xué);2012年

2 蔣帥;相控陣天線快速測(cè)量算法和故障診斷的研究[D];西安電子科技大學(xué);2010年

3 谷薔;Ka波段相控陣中場(chǎng)校準(zhǔn)方法研究[D];北京理工大學(xué);2015年

4 劉娜;車載星通相控陣天線關(guān)鍵技術(shù)研究[D];北京理工大學(xué);2015年

  本文關(guān)鍵詞：相控陣?yán)走_(dá)天線電性能測(cè)試平臺(tái)設(shè)計(jì)與實(shí)現(xiàn)，由筆耕文化傳播整理發(fā)布。

本文編號(hào)：376332