本文關(guān)鍵詞：平面近場(chǎng)測(cè)量系統(tǒng)設(shè)計(jì)和誤差分析，，由筆耕文化傳播整理發(fā)布。

【摘要】：平面近場(chǎng)測(cè)量技術(shù)是用于對(duì)天線進(jìn)行近場(chǎng)測(cè)量的一種新興技術(shù),在國(guó)外得到了廣泛采用。近年來(lái),在國(guó)內(nèi)的發(fā)展也越來(lái)越快,而掃描架運(yùn)動(dòng)平臺(tái)的定位技術(shù)作為平面近場(chǎng)測(cè)量技術(shù)的關(guān)鍵技術(shù)之一,對(duì)測(cè)量的精確度有著直接的影響。要實(shí)現(xiàn)高精度的平面近場(chǎng)測(cè)量,首先需要高精度的平面掃描系統(tǒng)。本文圍繞平面近場(chǎng)掃描架系統(tǒng)的設(shè)計(jì)、構(gòu)建、性能分析、誤差分析以及誤差補(bǔ)償方式進(jìn)行了研究。分析了平面近場(chǎng)測(cè)量技術(shù)的組成和測(cè)量原理。回顧了平面近場(chǎng)測(cè)量技術(shù)發(fā)展的歷史和現(xiàn)狀。指出掃描架子系統(tǒng)對(duì)于平面進(jìn)場(chǎng)測(cè)量系統(tǒng)測(cè)量精度的影響,闡述了國(guó)內(nèi)外各種平面掃描架系統(tǒng)的原理和特點(diǎn)。從實(shí)際課題出發(fā)給出了一種掃描架平臺(tái)的設(shè)計(jì)技術(shù)指標(biāo),并圍繞該指標(biāo)給出了以倒“T”型平面掃描架為主體結(jié)構(gòu),以大理石為平臺(tái),以伺服電機(jī)為驅(qū)動(dòng)的掃描架設(shè)計(jì)方案。通過(guò)ANSYS有限元分析軟件對(duì)設(shè)計(jì)結(jié)構(gòu)進(jìn)行分析,并對(duì)裝配試制樣品過(guò)程中出現(xiàn)的問(wèn)題進(jìn)行優(yōu)化。對(duì)其各項(xiàng)指標(biāo)進(jìn)行測(cè)試,結(jié)果表明此掃描架系統(tǒng)完全達(dá)到設(shè)計(jì)指標(biāo),符合測(cè)量要求。給出了掃描架系統(tǒng)在整個(gè)平面近場(chǎng)測(cè)量系統(tǒng)的誤差上界。對(duì)掃描架系統(tǒng)各主要誤差源進(jìn)行誤差分析,給出了誤差量級(jí)。對(duì)整體誤差補(bǔ)償進(jìn)行了建模。通過(guò)利用激光跟蹤儀作為本系統(tǒng)的誤差辨識(shí)方法,針對(duì)測(cè)量數(shù)據(jù)代入整體誤差模型,對(duì)X、Y定位誤差和平面度誤差這兩種系統(tǒng)誤差分別給出了相應(yīng)的補(bǔ)償方法。
【關(guān)鍵詞】：平面近場(chǎng) 掃描架 有限元分析 誤差分析
【學(xué)位授予單位】：哈爾濱工業(yè)大學(xué)
【學(xué)位級(jí)別】：碩士
【學(xué)位授予年份】：2015
【分類號(hào)】：TN820
【目錄】：

• 摘要4-5
• Abstract5-8
• 第1章 緒論8-16
• 1.1 課題研究的背景8-9
• 1.2 天線近場(chǎng)測(cè)量的概念9-10
• 1.3 國(guó)內(nèi)外平面近場(chǎng)測(cè)量系統(tǒng)的發(fā)展10-14
• 1.3.1 國(guó)外平面近場(chǎng)測(cè)量系統(tǒng)的發(fā)展10-14
• 1.3.2 國(guó)內(nèi)平面近場(chǎng)測(cè)量系統(tǒng)的發(fā)展14
• 1.4 研究?jī)?nèi)容及作者主要工作14-16
• 第2章 平面近場(chǎng)掃描架系統(tǒng)的方案設(shè)計(jì)16-40
• 2.1 掃描架設(shè)計(jì)要求和技術(shù)指標(biāo)16-17
• 2.2 平面近場(chǎng)掃描架系統(tǒng)設(shè)計(jì)方案17-39
• 2.2.1 掃描架硬件系統(tǒng)設(shè)計(jì)18-36
• 2.2.2 掃描架軟件系統(tǒng)設(shè)計(jì)方案36-38
• 2.2.3 隔震地基的設(shè)計(jì)38-39
• 2.3 本章小結(jié)39-40
• 第3章 平面近場(chǎng)掃描架誤差分析40-53
• 3.1 掃描架系統(tǒng)的誤差分類40-48
• 3.1.1 滾珠絲杠進(jìn)給系統(tǒng)的自身誤差40-41
• 3.1.2 導(dǎo)軌安裝產(chǎn)生的裝配誤差41-42
• 3.1.3 熱誤差42-47
• 3.1.4 載重誤差47-48
• 3.2 掃描架系統(tǒng)誤差模型的建立48-52
• 3.3 本章小結(jié)52-53
• 第4章 誤差的測(cè)量辨識(shí)以及相應(yīng)補(bǔ)償方式53-66
• 4.1 誤差的測(cè)量辨識(shí)方法53-55
• 4.2 數(shù)據(jù)采集和測(cè)量實(shí)驗(yàn)55-59
• 4.3 誤差補(bǔ)償59-65
• 4.3.1 對(duì)X軸、Y軸定位誤差的補(bǔ)償59-62
• 4.3.2 對(duì)X軸、Y軸平面度誤差的補(bǔ)償62-65
• 4.4 本章小結(jié)65-66
• 結(jié)論66-67
• 參考文獻(xiàn)67-72
• 致謝72

【參考文獻(xiàn)】

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  本文關(guān)鍵詞：平面近場(chǎng)測(cè)量系統(tǒng)設(shè)計(jì)和誤差分析，由筆耕文化傳播整理發(fā)布。

本文編號(hào)：344802