陣列之間的電磁耦合作用嚴(yán)重影響著陣列天線的性能,互耦效應(yīng)會(huì)引起陣元與其饋電的阻抗失配,造成方向圖畸變、陣列副瓣電平升高、干擾兩套天線獨(dú)立工作等現(xiàn)象。因此,陣列天線之間的耦合效應(yīng)是陣列天線設(shè)計(jì)與仿真過程中必須考慮的因素。由于大型天線陣列的電尺寸大、結(jié)構(gòu)復(fù)雜,矩量法等數(shù)值方法因計(jì)算內(nèi)存與計(jì)算時(shí)間限制,無法有效對(duì)大型天線陣列進(jìn)行全波仿真分析,因而需要研究求解大型天線陣列之間的耦合關(guān)系的新方法。針對(duì)大型天線陣列之間耦合關(guān)系求解的計(jì)算量大與計(jì)算時(shí)間長(zhǎng)等問題,本文以高階矩量法為基礎(chǔ),借助超級(jí)計(jì)算機(jī)的大規(guī)模并行計(jì)算技術(shù),利用場(chǎng)的等效原理求解大型天線陣列之間的電磁耦合特性。該方法主要分為兩部分,首先利用矩量法本征解提取大型天線陣列中所有典型單元單獨(dú)饋電時(shí)小型陣列的表面等效電磁流,通過對(duì)提取到的不同小陣列等效表面電磁流進(jìn)行疊加并計(jì)算其產(chǎn)生的輻射場(chǎng),即可得到大型天線陣列的電磁特性;接著,根據(jù)發(fā)射陣列各陣元的激勵(lì)與功率,將發(fā)射陣列產(chǎn)生的場(chǎng)作為接收陣列的激勵(lì),求解接收陣列在此外加激勵(lì)的情況下接收陣元端口的功率,即可求得兩個(gè)陣列之間的電磁耦合關(guān)系。區(qū)別于傳統(tǒng)的全波計(jì)算陣列之間的耦合關(guān)系方法,該方法能夠準(zhǔn)確有效地... 

【文章來源】：西安電子科技大學(xué)陜西省 211工程院校 教育部直屬院校

【文章頁數(shù)】：88 頁

【學(xué)位級(jí)別】：碩士

【部分圖文】：

遠(yuǎn)程預(yù)警相控陣?yán)走_(dá)圖

圖 1.2 美國(guó)“鋪路爪”路基雷達(dá)列之間的電磁耦合分析有較為深入的研究。從陣列內(nèi)個(gè)3 所示，在陣列天線系統(tǒng)中，每個(gè)天線單元均不是獨(dú)立全隔離的，而是相互影響的。陣列天線之間的互耦問題響較大，會(huì)造成陣列中單元方向圖畸變，陣列方向圖的發(fā)生偏轉(zhuǎn)。與此同時(shí)，多副陣列天線系統(tǒng)之間的電磁性能產(chǎn)生較大影響，不能保證各個(gè)天線陣面獨(dú)立工作，率。1335566入射平面波

第一章 緒 論隔離度與系統(tǒng)靈敏度以及雜散水平的關(guān)系[8]。設(shè)發(fā)射面 A 與接收面 B d，且發(fā)射陣面 A 面相對(duì)于接收陣面 B 面旋轉(zhuǎn)角度為θ，如圖 1.2 所示應(yīng)用該方法成功求解了發(fā)射陣列 A 與發(fā)射陣列 B 之間的電磁耦合關(guān)系之間的電磁耦合問題提供了新的方法，開辟一條新的道路。

【參考文獻(xiàn)】：
期刊論文
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博士論文
[1]基于超級(jí)計(jì)算機(jī)的并行矩量法關(guān)鍵技術(shù)與應(yīng)用[D]. 林中朝.西安電子科技大學(xué) 2016

碩士論文
[1]基于等效子陣電磁流方法的大型相控陣天線仿真分析[D]. 王永樂.西安電子科技大學(xué) 2017
[2]基于矩量法的陣列天線互耦特性研究[D]. 吳敏.電子科技大學(xué) 2016
[3]并行高階矩量法的波端口理論與應(yīng)用[D]. 暢青.西安電子科技大學(xué) 2015
[4]陣列天線間耦合模型研究[D]. 王穎.武漢理工大學(xué) 2012



本文編號(hào)：3233372