【摘要】：為了降低電子制造企業(yè)的產(chǎn)品合格率時(shí)間序列中的噪聲,采用了簡(jiǎn)單非線性降噪算法對(duì)時(shí)間序列進(jìn)行多次局部降噪.在降噪過(guò)程中,在某一鄰域半徑的重構(gòu)相空間中出現(xiàn)了大部分點(diǎn)變成了孤立點(diǎn)的異常狀態(tài).通過(guò)對(duì)異常狀態(tài)與正常狀態(tài)的對(duì)比研究,發(fā)現(xiàn)異常狀態(tài)下的時(shí)間序列是不變的,而且該時(shí)間序列的最大Lyapunov指數(shù)為恒定值,其大小已經(jīng)接近該降噪過(guò)程能夠達(dá)到的最大Lyapunov指數(shù).在重構(gòu)相空間中的降噪過(guò)程中出現(xiàn)異常狀態(tài)的意義在于:這種狀態(tài)下的系統(tǒng)在重構(gòu)相空間中已經(jīng)進(jìn)入一種基本有序的狀態(tài),重構(gòu)相空間中的大部分點(diǎn)之間只存在時(shí)間相關(guān)性,所以出現(xiàn)異常狀態(tài)后的時(shí)間序列正是降噪所要尋找的最佳混沌時(shí)間序列.
【圖文】：

數(shù)據(jù)異常3.1運(yùn)算過(guò)程中e笠斐Ｇ榭鲇捎謖魷囁占淶鬧本段，

本文編號(hào)：2564314