發(fā)布時(shí)間：2018-02-25 08:50

  本文關(guān)鍵詞： 傳導(dǎo)干擾 強(qiáng)電磁環(huán)境 窄帶HPM系統(tǒng) 瞬變脈沖群干擾　出處：《微波學(xué)報(bào)》2014年S2期 　論文類型：期刊論文

【摘要】：針對(duì)窄帶HPM系統(tǒng)強(qiáng)電磁環(huán)境傳導(dǎo)干擾的特殊性,采用理論預(yù)測(cè)、實(shí)驗(yàn)測(cè)量等方法對(duì)強(qiáng)電磁脈沖傳導(dǎo)耦合的影響進(jìn)行研究,分析導(dǎo)致電子儀器設(shè)備性能下降的因素,提出一種測(cè)量感應(yīng)傳導(dǎo)干擾的方法,該方法適用于對(duì)瞬變脈沖群干擾和浪涌干擾的干擾強(qiáng)度進(jìn)行測(cè)量。定性分析測(cè)試主要針對(duì)微波種子源裝置、閘流管觸發(fā)模塊以及激光外觸發(fā)裝置等部位的控制信號(hào)線纜,明確傳導(dǎo)干擾發(fā)生時(shí)刻、大小,研究其對(duì)儀器設(shè)備性能的影響,為強(qiáng)電磁環(huán)境下儀器設(shè)備防護(hù)加固提供技術(shù)支撐。
[Abstract]:In view of the particularity of strong electromagnetic environment conduction interference in narrow band HPM system, the influence of strong electromagnetic pulse conduction coupling is studied by means of theoretical prediction and experimental measurement, and the factors leading to the deterioration of the performance of electronic instruments and equipments are analyzed. This paper presents a method to measure the interference intensity of transient pulse group interference and surge interference. The qualitative analysis and test are mainly aimed at microwave seed source device, the method is suitable for measuring the interference intensity of transient pulse group interference and surge interference, and the method is suitable for measuring the interference intensity of transient pulse group interference and surge interference. The control signal cable of thyratron trigger module and laser external trigger device can determine the time and magnitude of conduction interference, study its influence on the performance of instrument and equipment, and provide technical support for the protection and reinforcement of instrument equipment under strong electromagnetic environment.
【作者單位】： 中國(guó)工程物理研究院應(yīng)用電子學(xué)研究所高功率微波技術(shù)重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室;
【分類號(hào)】：TN972

【參考文獻(xiàn)】

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本文編號(hào)：1533751