本文關(guān)鍵詞： 開(kāi)關(guān)電源 匯流排 場(chǎng)路耦合 歐姆損耗 電流密度　出處：《強(qiáng)激光與粒子束》2014年06期 　論文類(lèi)型：期刊論文

【摘要】：根據(jù)開(kāi)關(guān)電源工作原理,建立匯流排的外電路模型,并與匯流排模型進(jìn)行場(chǎng)路耦合仿真,用有限元仿真的方法,得到匯流排在實(shí)際激勵(lì)條件下的電流密度分布和歐姆損耗分布。分析匯流排工作時(shí)歐姆損耗集中的區(qū)域,在此基礎(chǔ)上對(duì)匯流排的結(jié)構(gòu)進(jìn)行優(yōu)化,從而達(dá)到減小匯流排的電流密度和歐姆損耗的目的。
[Abstract]:According to the principle of switching power supply, the external circuit model of bus is established, and the field-circuit coupling simulation is carried out with the model of busbar. The finite element method is used to simulate the circuit. The current density distribution and ohmic loss distribution of the busbar under actual excitation conditions are obtained. The region of ohmic loss concentration is analyzed, and the structure of the bus is optimized. Thus the current density and ohmic loss of the busbar are reduced.
【作者單位】： 西南交通大學(xué)物理科學(xué)與技術(shù)學(xué)院;
【基金】：中央高�；究蒲袠I(yè)務(wù)費(fèi)專(zhuān)項(xiàng)資金項(xiàng)目(SWJTU12CX086,SWJTU12CX077,SWJTU12ZT10)
【分類(lèi)號(hào)】：TN86

【參考文獻(xiàn)】

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【共引文獻(xiàn)】

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本文編號(hào)：1518880