本文圍繞天馬65 m (TM65 m)射電望遠(yuǎn)鏡主面重力變形和副面位姿展開(kāi)實(shí)測(cè)研究.論文先概述了主面測(cè)量的方法,主要討論了基于微波全息法的測(cè)量方法和天線掃描方法,然后論述了采用Very Long Baseline Interferometer (VLBI)測(cè)量65 m主面各俯仰角的重力變形,對(duì)測(cè)量誤差進(jìn)行了評(píng)估,進(jìn)而構(gòu)建了重力模型,并與仿真結(jié)果進(jìn)行了比較,兩者變化趨勢(shì)一致.同時(shí),推導(dǎo)并仿真了主焦饋源、副面位姿偏移和口徑面相位的解析關(guān)系,然后基于該解析關(guān)系和VLBI測(cè)量得到的口徑面相位數(shù)據(jù),并采用最小二乘法解算得了實(shí)際TM65 m副面位姿隨俯仰的變化情況,該測(cè)量結(jié)果在三維方向上與傳統(tǒng)基于主動(dòng)副面的幅度掃描法結(jié)果一致性強(qiáng),該方法為測(cè)量副面位姿提供了不同于傳統(tǒng)法的可行途徑.

【文章頁(yè)數(shù)】：10 頁(yè)

【文章目錄】：
1 概述
2 基于VLBI干涉全息掃描方法
3 測(cè)量誤差理論分析
4 天實(shí)測(cè)過(guò)程和結(jié)果分析
5 基于全息口徑面相位求解副面位姿
6 討論與總結(jié)



本文編號(hào)：3971908