【摘要】：光學(xué)綜合孔徑成像技術(shù)是高分辨率光學(xué)成像技術(shù)方法之一,它實(shí)現(xiàn)并應(yīng)用于天文觀測(cè)研究。光學(xué)綜合孔徑陣列的優(yōu)化在光學(xué)綜合孔徑成像技術(shù)中起著至關(guān)重要的作用。本文的主要工作就是對(duì)光學(xué)綜合孔徑陣列進(jìn)行優(yōu)化。本文在綜述了國(guó)內(nèi)外光學(xué)綜合孔徑成像技術(shù)的發(fā)展基礎(chǔ)上,介紹了光學(xué)綜合孔徑干涉成像技術(shù)所用到的uv覆蓋、閉合相位和圖像重構(gòu)三個(gè)關(guān)鍵技術(shù)及子孔徑排列的原理。重點(diǎn)對(duì)子孔徑陣列進(jìn)行了詳細(xì)研究,提出了直線陣列的優(yōu)化方案,求出了子孔徑數(shù)目不大于9個(gè)的有缺失小冗余的陣列和無(wú)缺失的陣列。為了對(duì)提出的孔徑陣列的優(yōu)化效果進(jìn)行評(píng)價(jià),本文采用了一種新的利用采樣頻譜圖分析的評(píng)價(jià)方法,著重對(duì)直線陣列的優(yōu)化結(jié)果進(jìn)行了分析,以四個(gè)孔徑為例,對(duì)直線陣列的成像結(jié)果進(jìn)行了計(jì)算機(jī)模擬,得到干涉圖以及干涉頻譜圖,并用干涉圖的信息熵對(duì)直線陣列性能做了定量分析。通過(guò)對(duì)不同參數(shù)條件下的兩孔徑干涉實(shí)驗(yàn)結(jié)果的分析,確定了實(shí)驗(yàn)室中直線陣列孔徑半徑大小,并對(duì)四個(gè)孔徑的直線陣列進(jìn)行了實(shí)驗(yàn)。實(shí)驗(yàn)結(jié)果表明,本文采用的孔徑陣列的優(yōu)化判斷方法以及實(shí)現(xiàn)優(yōu)化的過(guò)程是有效的。
【圖文】：

統(tǒng)中如果兩孔徑靠得太近如圖34零實(shí)際上己經(jīng)體現(xiàn)了一定的冗余。要減少這定程度，如圖3.5，此時(shí)頻譜采樣位置混，使得頻譜采樣位置混疊現(xiàn)象剛好消失，比如在實(shí)際處理過(guò)程中，可取占=.02D。為了不產(chǎn)生混疊，我們考慮孔徑半徑取值大。大小之后，我們用同種方法對(duì)子孔徑陣列，我們先定義冗余度為陣列冗余基線分量們分四種情況進(jìn)行討論。一種為同孔徑數(shù)，，缺失最小冗余和無(wú)缺失最小冗余陣列;一孔徑數(shù)的最小冗余陣列。別對(duì)這四種情況進(jìn)行討論。我們?cè)O(shè)陣列中

同孔徑數(shù)，不同冗余度的陣列頻譜圖
【學(xué)位授予單位】：南京理工大學(xué)
【學(xué)位級(jí)別】：碩士
【學(xué)位授予年份】：2005
【分類(lèi)號(hào)】：P111.2

【引證文獻(xiàn)】

相關(guān)博士學(xué)位論文 前1條

1 段相永;斐索式稀疏孔徑光學(xué)系統(tǒng)成像技術(shù)研究[D];中國(guó)科學(xué)院研究生院（長(zhǎng)春光學(xué)精密機(jī)械與物理研究所）;2012年

本文編號(hào)：2673033