由于CMOS/納米混合電路(CMOL)中存在高缺陷率,缺陷容忍映射成為解決CMOL電路實用化的必需方法.針對傳統(tǒng)的整體缺陷容忍方法中存在的耗時、難以求解大電路等問題,提出基于動態(tài)分層的缺陷容忍映射優(yōu)化方法.首先對電路的缺陷進(jìn)行了分類,然后以缺陷數(shù)遞減的方式對CMOL電路進(jìn)行動態(tài)分層,最后采用修改的禁忌算法在分層后的CMOL電路中驗證所提出方法的性能.ISCAS測試電路的實驗結(jié)果表明,與已有方法相比,文中方法在線長和映射速度方面有較明顯優(yōu)勢.

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【部分圖文】：

圖1CMOL電路結(jié)構(gòu)

1458計算機(jī)輔助設(shè)計與圖形學(xué)學(xué)報第31卷因此CMOL技術(shù)被認(rèn)為是最有可能替代傳統(tǒng)CMOS技術(shù)的后CMOS技術(shù)之一.研究表明,納米集成電路的缺陷率高達(dá)10%[2],遠(yuǎn)高于傳統(tǒng)CMOS電路910~710的缺陷率[3].納米電路中器件集成度可達(dá)1210個/cm2,如此超大規(guī)模的器件在....

圖2邏輯電路到CMOL電路的映射結(jié)果示例

圖3可用常開缺陷示例

1460計算機(jī)輔助設(shè)計與圖形學(xué)學(xué)報第31卷在映射時缺陷單元仍可利用;若缺陷導(dǎo)致單元無法實現(xiàn)邏輯功能,在映射時缺陷單元則不可利用.為方便起見,引入如下定義.定義1.僅影響單元間連接的缺陷,稱其為可用常開缺陷.定義2.影響單元邏輯功能的缺陷,稱其為不可用常開缺陷.2.1.1可用常開缺....

圖4s832電路缺陷容忍所需時間趨勢由于現(xiàn)層缺陷單元的容忍是在完成前層缺陷

第8期查曉婧,等:動態(tài)分層及其在CMOL電路缺陷容忍映射優(yōu)化中的應(yīng)用1461開缺陷,或關(guān)聯(lián)單元間距超過連通域半徑,則這些缺陷均為有效缺陷.對CMOL電路缺陷容忍,首先要確定存在有效缺陷的被映射單元,然后對該單元進(jìn)行重構(gòu).為了衡量缺陷單元重構(gòu)的優(yōu)先權(quán),引入評估函數(shù)iiiivBua(....

本文編號：3928752