平板顯示屏自動(dòng)光學(xué)檢測設(shè)備能否在規(guī)定時(shí)間內(nèi)對(duì)平板的所有缺陷拍照是其性能指標(biāo)之一,一般選擇合適的電機(jī)和算法可以滿足此要求。針對(duì)研發(fā)人員以往只能憑借經(jīng)驗(yàn)選擇方案的不足,將此要求轉(zhuǎn)化為最短路徑的研究,開發(fā)了基于LabVIEW的最短路徑測試仿真系統(tǒng)。首先采用遺傳算法對(duì)所有缺陷搜索出最短路徑,然后根據(jù)使用者輸入的相關(guān)參數(shù)計(jì)算出遍歷最短路徑的平均距離、時(shí)間達(dá)標(biāo)率等參數(shù)。實(shí)驗(yàn)表明,該系統(tǒng)能正確、快速地模擬實(shí)際應(yīng)用情景,算出時(shí)間達(dá)標(biāo)率等參數(shù),給工程設(shè)計(jì)提供了參考依據(jù)。

【文章頁數(shù)】：3 頁

【文章目錄】：
1 最短路徑的遺傳算法
    1.1 染色體編碼
    1.2 適應(yīng)度評(píng)價(jià)
    1.3 選擇操作
    1.4 交叉操作
    1.5 變異操作
2 LabVIEW程序?qū)崿F(xiàn)
    2.1 產(chǎn)生初始群體程序
    2.2 變異子程序
    2.3 統(tǒng)計(jì)結(jié)果程序
3 仿真測試
4 結(jié)束語



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