基于選擇性二階段分類回歸的單級目標(biāo)檢測
發(fā)布時間:2023-10-27 17:33
高效率的目標(biāo)檢測是一個具有挑戰(zhàn)性的問題,尤其在速度與精度無法同時滿足需求的環(huán)境下。文中提出了一種選擇性二階段分類回歸的目標(biāo)檢測方法。主要工作如下:首先,對RefineDet算法中兩個階段分類和回歸模塊進行調(diào)整,低層只做二階段分類以減少假陽性,高層只做二階段回歸以提高定位精度。此外,引入了一種RoIConv算子,該算子以計算偏移量的方式在一階段檢測中對齊特征及其對應(yīng)的錨點。結(jié)果表明,推理成本保持不變,算法在MS COCO測試集上檢測精度達到39.3,小目標(biāo)精度達到19.1。
【文章頁數(shù)】:5 頁
【文章目錄】:
0 引言
1 相關(guān)工作
1.1 單級目標(biāo)檢測算法
1.2 兩級目標(biāo)檢測算法
1.3 級聯(lián)目標(biāo)檢測算法
2 選擇性二階段分類回歸網(wǎng)絡(luò)
2.1 選擇性二階段分類
2.2 選擇性二階段回歸
2.3 特征對齊
3 訓(xùn)練與實驗
4 分析與討論
5 結(jié)束語
本文編號:3856959
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0 引言
1 相關(guān)工作
1.1 單級目標(biāo)檢測算法
1.2 兩級目標(biāo)檢測算法
1.3 級聯(lián)目標(biāo)檢測算法
2 選擇性二階段分類回歸網(wǎng)絡(luò)
2.1 選擇性二階段分類
2.2 選擇性二階段回歸
2.3 特征對齊
3 訓(xùn)練與實驗
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