TetraMAX ATPG作為業(yè)界性能較優(yōu)的自動(dòng)測(cè)試向量生成工具,能夠使用較短時(shí)間產(chǎn)生高故障覆蓋率的測(cè)試向量集.本文通過對(duì)TetraMAX ATPG產(chǎn)生的初始測(cè)試向量集進(jìn)行建模,提出了基于最小集合覆蓋求解方法的最小完備測(cè)試集生成方法,利用這一算法可以在保證測(cè)試向量集故障覆蓋率不變的基礎(chǔ)上有效地縮減測(cè)試集規(guī)模,從而降低電路測(cè)試成本.實(shí)驗(yàn)結(jié)果表明該方法對(duì)于固定故障類型和靜態(tài)電路故障類型均具有良好的約簡(jiǎn)效果. 

【文章來源】：湖南大學(xué)學(xué)報(bào)(自然科學(xué)版). 2020,47(12)北大核心EICSCD

【文章頁數(shù)】：8 頁

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【參考文獻(xiàn)】：
期刊論文
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博士論文
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本文編號(hào)：3345110