發(fā)布時間：2021-08-15 23:12

　　TetraMAX ATPG作為業(yè)界性能較優(yōu)的自動測試向量生成工具,能夠使用較短時間產生高故障覆蓋率的測試向量集.本文通過對TetraMAX ATPG產生的初始測試向量集進行建模,提出了基于最小集合覆蓋求解方法的最小完備測試集生成方法,利用這一算法可以在保證測試向量集故障覆蓋率不變的基礎上有效地縮減測試集規(guī)模,從而降低電路測試成本.實驗結果表明該方法對于固定故障類型和靜態(tài)電路故障類型均具有良好的約簡效果. 

【文章來源】：湖南大學學報(自然科學版). 2020,47(12)北大核心EICSCD

【文章頁數】：8 頁

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【參考文獻】：
期刊論文
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博士論文
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本文編號：3345110