基于DIC的高溫材料機械性能測量系統(tǒng)研究
發(fā)布時間:2021-06-08 00:18
數(shù)字圖像相關(guān)(Digital Image Correlation,DIC)方法是一種基于視覺圖像的非接觸、全場光學測量方法。DIC方法通過變形前后的兩幅圖像進行相關(guān)運算,實現(xiàn)全場位移、變形和應變的測量。該方法自提出以來經(jīng)過多年的研究發(fā)展已廣泛的應用在機械、材料、汽車等各個領(lǐng)域。近年來,該方法逐漸用來測量材料在高溫下的機械性能,但該方法應用在高溫下依然存在許多問題。本文針對數(shù)字圖像相關(guān)方法在高溫應用中存在的關(guān)鍵問題進行了研究,組建了一套高溫數(shù)字圖像相關(guān)測量系統(tǒng),并進行了高溫測量實驗來驗證系統(tǒng)的性能,具體研究工作如下:(1)分析介紹了數(shù)字圖像相關(guān)方法的基本原理以及相關(guān)概念,研究對比了幾種不同的整像素搜索和亞像素搜索算法,選出了本系統(tǒng)所要使用的相關(guān)搜索算法;(2)分析研究高溫下黑體輻射對成像帶來的影響,通過對比不同光源主動照明并加相應的濾波片進行濾波,照射在不同的散斑上,研究高溫下的最優(yōu)成像方法;(3)研究了高溫下熱氣流擾動給測量精度帶來的影響,提出將灰度平均算法和圖像逆濾波算法相結(jié)合的方法來處理圖像,從而減小熱氣流帶來的誤差影響;(4)研究了數(shù)字圖像相關(guān)方法測量時散斑圖的評價函數(shù)問題,提出...
【文章來源】:合肥工業(yè)大學安徽省 211工程院校 教育部直屬院校
【文章頁數(shù)】:70 頁
【學位級別】:碩士
【部分圖文】:
子區(qū)形變數(shù)學模型示意圖
1,2,3,4 分別為四個邊長不同個搜索區(qū)域之間的間隔就是子區(qū)于子區(qū)域邊長來說,要保證相關(guān)搜能會使該區(qū)域的灰度信息不明顯,高精度且會增加相關(guān)搜索的運算量個數(shù)值為邊長的子區(qū)域進行相關(guān)搜大的話,搜索的子區(qū)域就越少,搜,搜索的速度會降低,但會提高搜的設(shè)置這兩個量,從而來保證相關(guān)搜索方法并進行比較分析。圖 2.3 子區(qū)域和子區(qū)域間隔示意圖.3 Schematic of the subarea and subarea
表 2.1 整像素算法搜索時間Tab 2.1 Whole pixel algorithm search time。╬ixel) 11*11 21*21 31*31 4索法(s) 1.489880 1.899989 2.602183 3.4索法(s) 0.012821 0.013404 0.012901 0.0搜索法(s) 1.396562 1.380925 1.293196 1.3像素搜索算法文所說的都是數(shù)字圖像相關(guān)搜索中的整像素搜索方法,即搜索結(jié)果值是整數(shù)。但是,在實際的變形過程中,點的位移變化不一定正好且為了獲取更高的精度,我們通常希望可以定位到亞像素級別,即圖 2.5 模擬散斑圖Fig 2.5 Simulated Speckle Pattern
本文編號:3217542
【文章來源】:合肥工業(yè)大學安徽省 211工程院校 教育部直屬院校
【文章頁數(shù)】:70 頁
【學位級別】:碩士
【部分圖文】:
子區(qū)形變數(shù)學模型示意圖
1,2,3,4 分別為四個邊長不同個搜索區(qū)域之間的間隔就是子區(qū)于子區(qū)域邊長來說,要保證相關(guān)搜能會使該區(qū)域的灰度信息不明顯,高精度且會增加相關(guān)搜索的運算量個數(shù)值為邊長的子區(qū)域進行相關(guān)搜大的話,搜索的子區(qū)域就越少,搜,搜索的速度會降低,但會提高搜的設(shè)置這兩個量,從而來保證相關(guān)搜索方法并進行比較分析。圖 2.3 子區(qū)域和子區(qū)域間隔示意圖.3 Schematic of the subarea and subarea
表 2.1 整像素算法搜索時間Tab 2.1 Whole pixel algorithm search time。╬ixel) 11*11 21*21 31*31 4索法(s) 1.489880 1.899989 2.602183 3.4索法(s) 0.012821 0.013404 0.012901 0.0搜索法(s) 1.396562 1.380925 1.293196 1.3像素搜索算法文所說的都是數(shù)字圖像相關(guān)搜索中的整像素搜索方法,即搜索結(jié)果值是整數(shù)。但是,在實際的變形過程中,點的位移變化不一定正好且為了獲取更高的精度,我們通常希望可以定位到亞像素級別,即圖 2.5 模擬散斑圖Fig 2.5 Simulated Speckle Pattern
本文編號:3217542
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