多分辨率測(cè)量點(diǎn)云數(shù)據(jù)精匹配方法研究
【圖文】:
西安電子科技大學(xué)碩士學(xué)位論文2圖1.1 三維重構(gòu)在文物保護(hù)、機(jī)械工程及醫(yī)學(xué)中的應(yīng)用三維光學(xué)掃描[4]一般采用非接觸式的測(cè)量方式,即光學(xué)掃描儀與被測(cè)物體不進(jìn)行直接接觸,而是通過激光信息得到物體表面的采樣數(shù)據(jù),進(jìn)而組成點(diǎn)云,然后完成三維重構(gòu),如圖 1.2 所示。相比于傳統(tǒng)的接觸式測(cè)量技術(shù),,光學(xué)測(cè)量具有非接觸、速度快、精度高等特點(diǎn),因此能極大地節(jié)約時(shí)間和成本,并且能更準(zhǔn)確地獲取到復(fù)雜物體表面的測(cè)量信息,測(cè)量數(shù)據(jù)具有較強(qiáng)的復(fù)用性。這些優(yōu)勢(shì)使得三維光學(xué)掃描測(cè)量技術(shù)得到了廣泛的應(yīng)用與發(fā)展。在某些特殊場(chǎng)合,三維光學(xué)掃描技術(shù)具有獨(dú)特的、不可替代的作用
[5],因此近十幾年來(lái)發(fā)展迅速。圖1.2 三維光學(xué)掃描儀點(diǎn)云匹配(Point cloud registration)[6],又稱點(diǎn)云拼接、點(diǎn)云配準(zhǔn)、坐標(biāo)匹配等,是三維光學(xué)掃描測(cè)量以及三維重構(gòu)過程中的一個(gè)重要環(huán)節(jié),也吸引了眾多學(xué)者開展研究。匹配技術(shù)的實(shí)質(zhì)是將處于不同坐標(biāo)系的點(diǎn)云數(shù)據(jù)統(tǒng)一到同一個(gè)坐標(biāo)系下[7],在匹配過程中,將其中一幅點(diǎn)云近似成目標(biāo)曲面,把其它的點(diǎn)云變換到它的坐標(biāo)系下,如圖 1.3 所示。坐標(biāo)變換過程中會(huì)導(dǎo)致點(diǎn)云變換前后的差異,由此決定了匹配的誤差,這是匹配過程的必然結(jié)果,也是三維光學(xué)掃描測(cè)量中影響測(cè)量精度的最主要因素之一。所以,在三維光學(xué)掃描測(cè)量過程中,一個(gè)正確并且高效的匹配算法是關(guān)鍵,它直接影響三維光學(xué)掃描測(cè)量中模型的重構(gòu)質(zhì)量
【學(xué)位授予單位】:西安電子科技大學(xué)
【學(xué)位級(jí)別】:碩士
【學(xué)位授予年份】:2018
【分類號(hào)】:TP391.41
【參考文獻(xiàn)】
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10 熊邦書,何明一,俞華t
本文編號(hào):2662785
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