偏光膜外觀缺陷檢測(cè),目前主要檢測(cè)方式仍為人工檢測(cè)。然而該方式勞動(dòng)強(qiáng)度大,且人眼易產(chǎn)生疲勞,致使檢測(cè)可信度及速度偏低。近年來,隨著機(jī)器視覺領(lǐng)域軟硬件的快速發(fā)展及廣泛應(yīng)用,促使偏光膜外觀缺陷檢測(cè)技術(shù)不斷發(fā)展。在此背景下,課題組致力于研究關(guān)于偏光膜外觀缺陷的自動(dòng)檢測(cè)技術(shù),從圖像采集的硬件設(shè)計(jì)到圖像處理的軟件算法等各方面研究正逐步深入。本文主要研究圖像處理算法部分,主要研究?jī)?nèi)容如下:1.空域中基于改進(jìn)的Niblack局部二值化方法實(shí)現(xiàn)缺陷檢測(cè)。該算法首先通過積分圖算法對(duì)算法進(jìn)行加速,突破原始算法速度上的瓶頸。然后改進(jìn)原始算法中對(duì)于掩膜內(nèi)的局部二值化閾值的計(jì)算方式,使算法能適用于對(duì)比度更小的缺陷,使其更具魯棒性。同時(shí)通過與實(shí)驗(yàn)相結(jié)合,設(shè)計(jì)出掩膜的選擇標(biāo)準(zhǔn)。最后對(duì)經(jīng)驗(yàn)參數(shù)的值進(jìn)行修正,使算法可以適用于不同周期的余弦背景,實(shí)現(xiàn)二值化閾值的自適應(yīng)。該算法提升運(yùn)行速度至耗時(shí)約2.3秒,檢測(cè)準(zhǔn)確率達(dá)到93%左右。2.變換域中基于小波變換與頻域?yàn)V波的背景消除法實(shí)現(xiàn)缺陷檢測(cè)。該算法根據(jù)圖像背景灰度值呈余弦平滑過渡,缺陷占比較小且其灰度值發(fā)生突變的特點(diǎn)。在將圖像通過DFT或DCT轉(zhuǎn)換至頻率域后,背景將是低頻成分...

【文章頁(yè)數(shù)】：76 頁(yè)

【學(xué)位級(jí)別】：碩士

【部分圖文】：

圖1.1凌云科技研發(fā)的檢測(cè)系統(tǒng)

偏光膜外觀缺陷圖像處理與識(shí)別算法研究3的檢測(cè)[11]。臺(tái)灣ChengCC等人提出了基于Haar小波變換實(shí)現(xiàn)偏光膜外觀缺陷檢測(cè)的方法。利用Haar小波多分辨率的特點(diǎn)，通過對(duì)圖像進(jìn)行分段分析，實(shí)現(xiàn)針對(duì)不同大小和位置的偏光膜外觀缺陷的檢測(cè)。該方法的主要原理是通過將圖像分解成分解圖，然后....

圖1.2條紋反射光照明

偏光膜外觀缺陷圖像處理與識(shí)別算法研究4類型，識(shí)別率能達(dá)到95%。韓國(guó)GuE等人研發(fā)了一款基于圖像灰度直方圖分布的偏光膜外觀缺陷檢測(cè)系統(tǒng)。該系統(tǒng)共分為三部分，分別是圖像預(yù)處理系統(tǒng)、缺陷候選檢測(cè)系統(tǒng)和缺陷分類系統(tǒng)。該系統(tǒng)通過對(duì)圖像背景像素的灰度分布直方圖進(jìn)行分析，以此獲取缺陷的像素組....

圖1.3FV-Pixcellence檢測(cè)設(shè)備

偏光膜外觀缺陷圖像處理與識(shí)別算法研究6第2章偏光膜外觀缺陷圖像采集系統(tǒng)及仿真模型研究2.1偏光膜外觀缺陷概述偏光膜缺陷包含偏光膜表面缺陷及位于其內(nèi)部的缺陷，現(xiàn)行業(yè)中并未對(duì)該概念形成統(tǒng)一的定義，行業(yè)內(nèi)稱為“外觀欠點(diǎn)”。2.1.1偏光膜外觀缺陷類型據(jù)調(diào)研可知，偏光膜外觀缺陷根據(jù)其特征....

圖1.4TFT-LCD缺陷自動(dòng)檢測(cè)分類設(shè)備上述所有檢測(cè)算法和檢測(cè)設(shè)備在檢測(cè)設(shè)備的硬件及檢測(cè)算法等方面進(jìn)行了各方面

偏光膜外觀缺陷圖像處理與識(shí)別算法研究6第2章偏光膜外觀缺陷圖像采集系統(tǒng)及仿真模型研究2.1偏光膜外觀缺陷概述偏光膜缺陷包含偏光膜表面缺陷及位于其內(nèi)部的缺陷，現(xiàn)行業(yè)中并未對(duì)該概念形成統(tǒng)一的定義，行業(yè)內(nèi)稱為“外觀欠點(diǎn)”。2.1.1偏光膜外觀缺陷類型據(jù)調(diào)研可知，偏光膜外觀缺陷根據(jù)其特征....

本文編號(hào)：3967735