發(fā)布時(shí)間：2024-02-24 01:12

　　隨著高新技術(shù)產(chǎn)業(yè)如電子、通信、生物醫(yī)學(xué)工程等領(lǐng)域相關(guān)產(chǎn)品逐漸向小型化、微型化的發(fā)展,從而對(duì)其外形尺寸加工的精度也不斷地提高,因此對(duì)目前的測(cè)量技術(shù)提出了更高的要求,并促進(jìn)其向高精度、集成化、高速度方向發(fā)展。在小尺寸物體三維(3-Dimensional,3D)測(cè)量的應(yīng)用背景下,基于激光干涉條紋結(jié)構(gòu)光投影的3D測(cè)量方法具有系統(tǒng)結(jié)構(gòu)靈活、條紋投影清晰、環(huán)境適應(yīng)力強(qiáng)等優(yōu)點(diǎn)而受到眾多科學(xué)家關(guān)注。本文設(shè)計(jì)開(kāi)發(fā)了一套基于嵌入式平臺(tái)的3D測(cè)量系統(tǒng),并針對(duì)測(cè)量過(guò)程出現(xiàn)的問(wèn)題改進(jìn)了系統(tǒng)硬件結(jié)構(gòu)與相關(guān)軟件算法,取得了較好的測(cè)量效果,本文主要工作如下:(1)基于光的偏振特性對(duì)測(cè)量系統(tǒng)的激光干涉條紋結(jié)構(gòu)光投影與圖像采集進(jìn)行了優(yōu)化,通過(guò)添加偏振鏡降低環(huán)境光強(qiáng)的影響;裁剪干涉條紋圖像獲得待測(cè)物體關(guān)鍵區(qū)域并濾除圖像內(nèi)噪聲點(diǎn),然后基于高斯變換函數(shù)對(duì)干涉條紋圖像的背景光強(qiáng)進(jìn)行了均衡化處理,進(jìn)一步提高了圖像的亮度均勻性。(2)設(shè)計(jì)了參考條紋圖像自動(dòng)生成算法;通過(guò)基于光纖干涉條紋圖像中未被調(diào)制部分?jǐn)M合一組條紋模型以代替待測(cè)物體所在區(qū)域,然后根據(jù)條紋像素灰度值的余弦分布特性進(jìn)行優(yōu)化,最終恢復(fù)出完整、準(zhǔn)確的參考條紋圖像,實(shí)現(xiàn)了只需...

【文章頁(yè)數(shù)】：71 頁(yè)

【學(xué)位級(jí)別】：碩士

【文章目錄】：
摘要
abstract
第一章 緒論
    1.1 課題背景及研究意義
    1.2 課題國(guó)內(nèi)外研究現(xiàn)狀
    1.3 本文主要研究?jī)?nèi)容和結(jié)構(gòu)安排
第二章 激光干涉結(jié)構(gòu)光投影3D測(cè)量原理分析
    2.1 激光干涉結(jié)構(gòu)光投影條紋生成原理與性質(zhì)分析
        2.1.1 激光干涉條紋生成原理
        2.1.2 激光干涉條紋性質(zhì)分析
        2.1.3 小尺寸物體3D測(cè)量場(chǎng)景分析
    2.2 3D測(cè)量系統(tǒng)數(shù)學(xué)模型構(gòu)建
    2.3 3D測(cè)量系統(tǒng)硬件選型與設(shè)計(jì)
    2.4 3D測(cè)量軟件運(yùn)行環(huán)境
    2.5 本章小結(jié)
第三章 激光干涉結(jié)構(gòu)光物體3D測(cè)量關(guān)鍵技術(shù)
    3.1 基于光偏振原理的圖像采集與處理
        3.1.1 光偏振原理分析
        3.1.2 光纖干涉條紋圖像采集與預(yù)處理設(shè)計(jì)
    3.2 基于高斯函數(shù)的干涉條紋圖像校正處理
    3.3 基于結(jié)構(gòu)光投影條紋性質(zhì)的參考條紋圖像生成算法
        3.3.1 結(jié)構(gòu)光投影條紋空間位置分布分析
        3.3.2 參考條紋圖像生成算法的設(shè)計(jì)
    3.4 光纖干涉條紋圖像相位分布提取
    3.5 條紋相位解包裹處理
    3.6 數(shù)據(jù)保存與3D結(jié)果展示
    3.7 本章小結(jié)
第四章 3D測(cè)量系統(tǒng)實(shí)驗(yàn)結(jié)果及分析
    4.1 測(cè)量系統(tǒng)平臺(tái)搭建
    4.2 測(cè)量系統(tǒng)數(shù)學(xué)模型參數(shù)標(biāo)定實(shí)驗(yàn)
    4.3 小尺寸物體3D測(cè)量實(shí)驗(yàn)
    4.4 測(cè)量系統(tǒng)時(shí)間效率與精確度分析
        4.4.1 相同測(cè)量平臺(tái)不同算法耗時(shí)與精確度分析
        4.4.2 不同測(cè)量平臺(tái)相同算法耗時(shí)與精確度分析
    4.5 本章小結(jié)
第五章 總結(jié)與展望
    5.1 工作總結(jié)
    5.2 工作展望
參考文獻(xiàn)
碩士期間發(fā)表論文和參加科研情況
致謝



本文編號(hào)：3908281