隨著科學(xué)技術(shù)的發(fā)展和進(jìn)步,三維立體視覺(jué)在我們的生活中占據(jù)了越來(lái)越重要的地位,因此三維測(cè)量技術(shù)得到了越來(lái)越多的重視。從最初的接觸式三維測(cè)量方式,到之后逐漸演變而來(lái)的眾多非接觸式的三維測(cè)量技術(shù),都可以看出三維測(cè)量技術(shù)朝著快速,便捷,高精度,高穩(wěn)定性等方向發(fā)展。根據(jù)光場(chǎng)成像原理,其記錄的是空間中光線的位置和方向信息,區(qū)別與其他測(cè)量技術(shù),把傳統(tǒng)意義上從二維數(shù)據(jù)恢復(fù)三維信息的方式推進(jìn)到了從四維數(shù)據(jù)恢復(fù)三維信息的高度,逐漸成為三維測(cè)量領(lǐng)域的研究熱門(mén)。所以本文就基于光場(chǎng)成像的三維測(cè)量技術(shù)方面的一些方法進(jìn)行了研究和分析,同時(shí)結(jié)合現(xiàn)有的傳統(tǒng)測(cè)量方法的優(yōu)點(diǎn),提出了一種融合兩者優(yōu)勢(shì)的測(cè)量系統(tǒng),之后根據(jù)光場(chǎng)數(shù)據(jù)的兩種不同采集方式進(jìn)行了實(shí)驗(yàn)和分析。其主要研究?jī)?nèi)容如下:一,介紹了三維測(cè)量技術(shù)的發(fā)展和研究現(xiàn)狀,對(duì)條紋投影技術(shù)的理論進(jìn)行闡述,其中主要包括攝像機(jī)的成像模型,相移法以及深度估算的原理等。二,對(duì)光場(chǎng)成像技術(shù)的概念,發(fā)展以及研究現(xiàn)狀進(jìn)行了簡(jiǎn)述,并分析了測(cè)量原理中諸多關(guān)鍵技術(shù),包括光場(chǎng)的參數(shù)化表征方式,采集方式,深度估算等。三,在傳統(tǒng)的三維測(cè)量方法中,被測(cè)物體表面存在三維數(shù)據(jù)難以測(cè)量的情況,例如遮擋、陰影、高光... 

【文章來(lái)源】： 陳順治 深圳大學(xué)

【文章頁(yè)數(shù)】：67 頁(yè)

【學(xué)位級(jí)別】：碩士

【文章目錄】：
摘要
Abstract
第1章 緒論
    1.1 課題的研究背景
    1.2 三維測(cè)量技術(shù)的研究現(xiàn)狀
    1.3 光場(chǎng)成像技術(shù)的發(fā)展?fàn)顩r
    1.4 本文的研究工作
第2章 三維測(cè)量技術(shù)的理論研究
    2.1 引言
    2.2 條紋投影技術(shù)的理論研究
        2.2.1 攝像機(jī)成像模型
        2.2.2 相移法原理
        2.2.3 深度估算原理
    2.3 光場(chǎng)三維成像技術(shù)的理論研究
        2.3.1 光場(chǎng)三維成像技術(shù)的研究現(xiàn)狀
        2.3.2 光場(chǎng)概述
        2.3.3 光場(chǎng)的參數(shù)化表征
        2.3.4 光場(chǎng)數(shù)據(jù)的采集方式
第3章 基于相機(jī)陣列的光場(chǎng)三維測(cè)量系統(tǒng)
    3.1 引言
    3.2 光場(chǎng)數(shù)據(jù)的采集方式
    3.3 三維重建的原理
        3.3.1 相位展開(kāi)方法
        3.3.2 相位的插值與多次查找
        3.3.3 深度估算與分析
        3.3.4 系統(tǒng)的測(cè)量原理
    3.4 實(shí)驗(yàn)過(guò)程和結(jié)果分析
        3.4.1 實(shí)驗(yàn)過(guò)程與數(shù)據(jù)
        3.4.2 結(jié)果分析與誤差評(píng)估
    3.5 小結(jié)
第4章 基于微透鏡陣列的光場(chǎng)成像系統(tǒng)的標(biāo)定
    4.1 引言
    4.2 系統(tǒng)的標(biāo)定原理
        4.2.1 測(cè)量系統(tǒng)示意圖
        4.2.2 系統(tǒng)的標(biāo)定
        4.2.3 建立圖像坐標(biāo)和相位與世界坐標(biāo)的映射關(guān)系
        4.2.4 正交相位的查找與匹配
    4.3 實(shí)驗(yàn)測(cè)量
    4.4 總結(jié)與分析
第5章 基于微透鏡陣列的光場(chǎng)成像三維測(cè)量系統(tǒng)
    5.1 引言
    5.2 系統(tǒng)的測(cè)量原理
        5.2.1 系統(tǒng)結(jié)構(gòu)
        5.2.2 微透鏡單元圖像的獲取
        5.2.3 深度值估算原理
    5.3 實(shí)驗(yàn)過(guò)程和數(shù)據(jù)分析
    5.4 小結(jié)
第6章 總結(jié)與展望
    6.1 論文工作的總結(jié)
    6.2 展望
參考文獻(xiàn)
致謝
攻讀碩士學(xué)位期間的研究成果



本文編號(hào)：2959555