發(fā)布時間：2021-01-06 00:18

　　隨著科學技術的發(fā)展和進步,三維立體視覺在我們的生活中占據(jù)了越來越重要的地位,因此三維測量技術得到了越來越多的重視。從最初的接觸式三維測量方式,到之后逐漸演變而來的眾多非接觸式的三維測量技術,都可以看出三維測量技術朝著快速,便捷,高精度,高穩(wěn)定性等方向發(fā)展。根據(jù)光場成像原理,其記錄的是空間中光線的位置和方向信息,區(qū)別與其他測量技術,把傳統(tǒng)意義上從二維數(shù)據(jù)恢復三維信息的方式推進到了從四維數(shù)據(jù)恢復三維信息的高度,逐漸成為三維測量領域的研究熱門。所以本文就基于光場成像的三維測量技術方面的一些方法進行了研究和分析,同時結合現(xiàn)有的傳統(tǒng)測量方法的優(yōu)點,提出了一種融合兩者優(yōu)勢的測量系統(tǒng),之后根據(jù)光場數(shù)據(jù)的兩種不同采集方式進行了實驗和分析。其主要研究內容如下:一,介紹了三維測量技術的發(fā)展和研究現(xiàn)狀,對條紋投影技術的理論進行闡述,其中主要包括攝像機的成像模型,相移法以及深度估算的原理等。二,對光場成像技術的概念,發(fā)展以及研究現(xiàn)狀進行了簡述,并分析了測量原理中諸多關鍵技術,包括光場的參數(shù)化表征方式,采集方式,深度估算等。三,在傳統(tǒng)的三維測量方法中,被測物體表面存在三維數(shù)據(jù)難以測量的情況,例如遮擋、陰影、高光... 

【文章來源】： 陳順治 深圳大學

【文章頁數(shù)】：67 頁

【學位級別】：碩士

【文章目錄】：
摘要
Abstract
第1章 緒論
    1.1 課題的研究背景
    1.2 三維測量技術的研究現(xiàn)狀
    1.3 光場成像技術的發(fā)展狀況
    1.4 本文的研究工作
第2章 三維測量技術的理論研究
    2.1 引言
    2.2 條紋投影技術的理論研究
        2.2.1 攝像機成像模型
        2.2.2 相移法原理
        2.2.3 深度估算原理
    2.3 光場三維成像技術的理論研究
        2.3.1 光場三維成像技術的研究現(xiàn)狀
        2.3.2 光場概述
        2.3.3 光場的參數(shù)化表征
        2.3.4 光場數(shù)據(jù)的采集方式
第3章 基于相機陣列的光場三維測量系統(tǒng)
    3.1 引言
    3.2 光場數(shù)據(jù)的采集方式
    3.3 三維重建的原理
        3.3.1 相位展開方法
        3.3.2 相位的插值與多次查找
        3.3.3 深度估算與分析
        3.3.4 系統(tǒng)的測量原理
    3.4 實驗過程和結果分析
        3.4.1 實驗過程與數(shù)據(jù)
        3.4.2 結果分析與誤差評估
    3.5 小結
第4章 基于微透鏡陣列的光場成像系統(tǒng)的標定
    4.1 引言
    4.2 系統(tǒng)的標定原理
        4.2.1 測量系統(tǒng)示意圖
        4.2.2 系統(tǒng)的標定
        4.2.3 建立圖像坐標和相位與世界坐標的映射關系
        4.2.4 正交相位的查找與匹配
    4.3 實驗測量
    4.4 總結與分析
第5章 基于微透鏡陣列的光場成像三維測量系統(tǒng)
    5.1 引言
    5.2 系統(tǒng)的測量原理
        5.2.1 系統(tǒng)結構
        5.2.2 微透鏡單元圖像的獲取
        5.2.3 深度值估算原理
    5.3 實驗過程和數(shù)據(jù)分析
    5.4 小結
第6章 總結與展望
    6.1 論文工作的總結
    6.2 展望
參考文獻
致謝
攻讀碩士學位期間的研究成果



本文編號：2959555