電阻率成像技術(shù)在不良地質(zhì)探測(cè)中的應(yīng)用研究
發(fā)布時(shí)間:2024-09-18 09:42
針對(duì)城市地下勘察孔位難以布置、孔數(shù)無(wú)法密布涵蓋全部,對(duì)地下不良、空洞、松散等地質(zhì)條件難以判定等問(wèn)題展開(kāi)研究,提出采用電阻率成像探測(cè)法對(duì)地下不良土體進(jìn)行測(cè)探,以實(shí)際工程為例,論述該方法的探測(cè)原理,對(duì)探測(cè)結(jié)果進(jìn)行技術(shù)分析,提出解決方案。
【文章頁(yè)數(shù)】:3 頁(yè)
【文章目錄】:
1 工程概況
2 電阻率成像探測(cè)不良地質(zhì)分析
2.1 電阻率成像探測(cè)技術(shù)
2.2 不良地質(zhì)探測(cè)分析
3 不良土體處置
4 結(jié)語(yǔ)
本文編號(hào):4005948
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1 工程概況
2 電阻率成像探測(cè)不良地質(zhì)分析
2.1 電阻率成像探測(cè)技術(shù)
2.2 不良地質(zhì)探測(cè)分析
3 不良土體處置
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