變異測(cè)試是一種面向故障的軟件測(cè)試方法,該技術(shù)向被測(cè)程序注入一組人工設(shè)計(jì)的故障,又稱變異體,來評(píng)估已有測(cè)試用例的故障檢測(cè)水平以及設(shè)計(jì)滿足高故障檢測(cè)率的測(cè)試集。變異測(cè)試存在的一個(gè)主要問題是,它生成了大量冗余且無用的變異體,這些變異體無法顯著提升測(cè)試用例的檢測(cè)水平,但卻極大地提高了測(cè)試分析的成本。近年來,國內(nèi)外研究者提出了通過蘊(yùn)含關(guān)系識(shí)別一組最小無冗余的變異體子集作為變異測(cè)試的輸入,從而最大程度地減少測(cè)試成本,同時(shí)提高測(cè)試用例殺死每一個(gè)故障所取得的故障檢測(cè)水平。然而,變異體的蘊(yùn)含關(guān)系識(shí)別是一個(gè)不可解問題。本文采用了一種基于動(dòng)態(tài)測(cè)試的算法近似識(shí)別變異蘊(yùn)含關(guān)系以及最小蘊(yùn)含變異集。相較于現(xiàn)有的算法,該算法能夠在盡可能減少測(cè)試次數(shù)和計(jì)算成本的條件下完成蘊(yùn)含集的識(shí)別。本文的貢獻(xiàn)包括:1)提出了一種動(dòng)態(tài)快速算法,計(jì)算和識(shí)別變異體的動(dòng)態(tài)蘊(yùn)含圖;該算法主要通過三個(gè)步驟完成蘊(yùn)含關(guān)系的識(shí)別,分別是:聚類、排序和剪枝;2)將上述算法集成到CTS測(cè)試系統(tǒng)中,為識(shí)別77種C語言算子的變異體中的最小蘊(yùn)含集提供功能支持;3)將文本提出的快速算法應(yīng)用于12組程序的近6萬個(gè)變異體上,包括五個(gè)較大的西門子測(cè)試套件程序,從中識(shí)別... 

【文章頁數(shù)】：63 頁

【學(xué)位級(jí)別】：碩士

【文章目錄】：
摘要
ABSTRACT
第一章 緒論
    1.1 研究背景
    1.2 研究現(xiàn)狀
    1.3 研究?jī)?nèi)容
    1.4 論文結(jié)構(gòu)
第二章 變異測(cè)試概述
    2.1 變異測(cè)試流程
    2.2 變異測(cè)試方法
    2.3 變異測(cè)試現(xiàn)狀
第三章 蘊(yùn)含關(guān)系的定義與研究現(xiàn)狀
    3.1 蘊(yùn)含關(guān)系的相關(guān)定義
    3.2 蘊(yùn)含關(guān)系的研究現(xiàn)狀
        3.2.1 邏輯蘊(yùn)含關(guān)系
        3.2.2 動(dòng)態(tài)蘊(yùn)含關(guān)系
        3.2.3 靜態(tài)蘊(yùn)含關(guān)系
    3.3 動(dòng)態(tài)蘊(yùn)含方法
    3.4 現(xiàn)有算法的存在問題
第四章 一種計(jì)算最小蘊(yùn)含變異集的快速算法
    4.1 計(jì)算最小蘊(yùn)含變異集一般流程
    4.2 聚類、排序與剪枝
        4.2.1 聚類方法clusterMutants()的實(shí)現(xiàn)
        4.2.2 直接蘊(yùn)含方法directSubsumed()的實(shí)現(xiàn)
第五章 DMSG框架的詳細(xì)設(shè)計(jì)和實(shí)現(xiàn)
    5.1 DMSG生成框架
    5.2 CTS故障注入模塊
        5.2.1 程序故障分析和建模
        5.2.2 C變異算子的實(shí)現(xiàn)
    5.3 西門子集測(cè)試框架
    5.4 DMSGen工具的實(shí)現(xiàn)
        5.4.1 Cmutant
        5.4.2 CTest
        5.4.3 CScore
        5.4.4 MGraph
    5.5 實(shí)驗(yàn)分析
        5.5.1 研究問題和實(shí)驗(yàn)設(shè)計(jì)
        5.5.2 實(shí)驗(yàn)結(jié)果分析
第六章 總結(jié)與展望
    6.1 總結(jié)
    6.2 下一步工作展望
參考文獻(xiàn)
致謝
作者攻讀學(xué)位期間發(fā)表的學(xué)術(shù)論文目錄



本文編號(hào)：3667882