發(fā)布時間：2021-12-24 01:23

　　相較于傳統(tǒng)的通過外部測試儀器對設(shè)備進(jìn)行離線測試,機(jī)內(nèi)測試（BIT）能夠在設(shè)備內(nèi)部進(jìn)行故障檢測,并將故障定位到外場或內(nèi)場可更換單元,進(jìn)而快速地完成對故障單元的更換,保障裝備的作戰(zhàn)能力。本文從機(jī)內(nèi)測試的角度設(shè)計(jì)了一種應(yīng)用于通信設(shè)備故障診斷的機(jī)內(nèi)測試系統(tǒng)的軟件,該軟件平臺通過軟件界面的參數(shù)設(shè)置對硬件被測電路發(fā)送測試命令控制硬件執(zhí)行測試任務(wù),能夠?qū)τ布娐贩祷氐臏y試數(shù)據(jù)進(jìn)行收集分析處理,實(shí)現(xiàn)對模擬信號參數(shù)測量與數(shù)字電路邊界掃描測試。論文在需求分析基礎(chǔ)上給出軟件整體方案設(shè)計(jì),然后分章節(jié)詳細(xì)介紹了各個功能模塊的設(shè)計(jì)實(shí)現(xiàn)過程。論文的主要研究內(nèi)容如下:1.模擬BIT電路的信號參數(shù)測量及顯示。該部分包括對射頻模塊、中頻模塊、低頻模塊的參數(shù)測量,針對不同測量對象、不同測試模式,機(jī)內(nèi)測試系統(tǒng)軟件設(shè)計(jì)了模擬BIT各類型控制命令及參數(shù),實(shí)現(xiàn)了對射頻信號的頻率、功率參數(shù)的大量程測量,中頻FM、AM信號的調(diào)制參數(shù)測量,以及8通道低頻信號參數(shù)測量。同時,根據(jù)用戶設(shè)定允許范圍,對測量結(jié)果進(jìn)行判決和下發(fā)。2.數(shù)字BIT集成電路邊界掃描測試功能。通過對邊界掃描技術(shù)研究,以及對集成電路器件BSDL文件、PCB電路網(wǎng)表文件規(guī)范... 

【文章來源】：電子科技大學(xué)四川省 211工程院校 985工程院校 教育部直屬院校

【文章頁數(shù)】：81 頁

【學(xué)位級別】：碩士

【部分圖文】：

數(shù)字BITE測試界面設(shè)計(jì)

電子科技大學(xué)碩士學(xué)位論文22圖3-3指令寄存器的BSDL描述如圖3-3為XC6SLX16芯片指令寄存器的BSDL描述，文件首先描述了XC6SLX16芯片的指令長度為6位，然后分別給出了各指令的編碼，最后對指令寄存器的初始值進(jìn)行了描述，從該描述中還可知SAMPLE（采樣）指令與PRELOAD（預(yù)裝載）指令相同。5）邊界掃描寄存器描述（BoundaryRegisterDescription），該部分內(nèi)容是實(shí)現(xiàn)邊界掃測試的最重要信息，該部分內(nèi)容在BSDL文件中所占篇幅最大也是文件最主要的部分。如圖3-4為XC6SLX16芯片邊界掃描寄存器的BSDL描述。圖3-4邊界掃描寄存器的BSDL描述文件首先描述了整個邊界掃描寄存器一共擁有744個邊界掃描單元，且根據(jù)邊界掃描單元在掃描鏈路中的位置將其編號為0-743。每一個單元描述包括了八個部分，其中cellnum代表邊界掃描單元在整個測試鏈路中的位置。type指掃描單元

電子科技大學(xué)碩士學(xué)位論文22圖3-3指令寄存器的BSDL描述如圖3-3為XC6SLX16芯片指令寄存器的BSDL描述，文件首先描述了XC6SLX16芯片的指令長度為6位，然后分別給出了各指令的編碼，最后對指令寄存器的初始值進(jìn)行了描述，從該描述中還可知SAMPLE（采樣）指令與PRELOAD（預(yù)裝載）指令相同。5）邊界掃描寄存器描述（BoundaryRegisterDescription），該部分內(nèi)容是實(shí)現(xiàn)邊界掃測試的最重要信息，該部分內(nèi)容在BSDL文件中所占篇幅最大也是文件最主要的部分。如圖3-4為XC6SLX16芯片邊界掃描寄存器的BSDL描述。圖3-4邊界掃描寄存器的BSDL描述文件首先描述了整個邊界掃描寄存器一共擁有744個邊界掃描單元，且根據(jù)邊界掃描單元在掃描鏈路中的位置將其編號為0-743。每一個單元描述包括了八個部分，其中cellnum代表邊界掃描單元在整個測試鏈路中的位置。type指掃描單元

【參考文獻(xiàn)】：
期刊論文
[1]通信系統(tǒng)中射頻功率測量的應(yīng)用[J]. 苗亮.  計(jì)算機(jī)產(chǎn)品與流通. 2019(02)
[2]構(gòu)建Windows環(huán)境下Python GUI網(wǎng)絡(luò)編程實(shí)驗(yàn)環(huán)境[J]. 劉海燕,馬振濤.  北華航天工業(yè)學(xué)院學(xué)報(bào). 2018(04)
[3]Python網(wǎng)絡(luò)編程研究[J]. 葉鋒.  電腦編程技巧與維護(hù). 2016(21)
[4]AM信號正交解調(diào)方法的性能分析[J]. 張勇,許憶南.  電子世界. 2013(13)
[5]邊界掃描測試技術(shù)發(fā)展綜述[J]. 劉九洲,王健.  電光與控制. 2013(02)
[6]BIT設(shè)計(jì)與發(fā)展綜述[J]. 董今朝,謝永成,李光升,魏寧.  微型機(jī)與應(yīng)用. 2012(21)
[7]基于貝葉斯信息融合的解析余度輔助機(jī)內(nèi)測試決策[J]. 池程芝,章衛(wèi)國,劉小雄.  控制與決策. 2012(10)
[8]基于信息熵的機(jī)內(nèi)測試診斷策略優(yōu)化技術(shù)[J]. 張陟,王偉平,李宇.  計(jì)算機(jī)測量與控制. 2012(07)
[9]電子元器件封裝技術(shù)發(fā)展趨勢[J]. 黃慶紅.  電子與封裝. 2010(06)
[10]嵌入式計(jì)算機(jī)的BIT設(shè)計(jì)與實(shí)現(xiàn)[J]. 劉少雄,喻衛(wèi)東.  計(jì)算機(jī)工程. 2008(S1)

博士論文
[1]復(fù)雜裝備智能機(jī)內(nèi)測試技術(shù)研究[D]. 王志穎.電子科技大學(xué) 2011

碩士論文
[1]復(fù)雜數(shù)字電路板的邊界掃描測試系統(tǒng)設(shè)計(jì)與實(shí)現(xiàn)[D]. 昌磊.電子科技大學(xué) 2019
[2]復(fù)雜電路邊界掃描測試向量生成與優(yōu)化方法研究[D]. 余宜璐.電子科技大學(xué) 2019
[3]基于機(jī)內(nèi)測試的數(shù)控機(jī)床故障預(yù)測技術(shù)研究[D]. 蔡長亮.長春工業(yè)大學(xué) 2015
[4]基于邊界掃描測試技術(shù)的測試圖形生成的研究[D]. 劉建芳.江蘇大學(xué) 2006
[5]邊界掃描測試系統(tǒng)設(shè)計(jì)與實(shí)現(xiàn)[D]. 徐建潔.國防科學(xué)技術(shù)大學(xué) 2005
[6]基于邊界掃描的測試算法和BIST設(shè)計(jì)技術(shù)研究[D]. 段軍棋.電子科技大學(xué) 2004



本文編號：3549554