相較于傳統(tǒng)的通過外部測試儀器對設備進行離線測試,機內測試（BIT）能夠在設備內部進行故障檢測,并將故障定位到外場或內場可更換單元,進而快速地完成對故障單元的更換,保障裝備的作戰(zhàn)能力。本文從機內測試的角度設計了一種應用于通信設備故障診斷的機內測試系統(tǒng)的軟件,該軟件平臺通過軟件界面的參數(shù)設置對硬件被測電路發(fā)送測試命令控制硬件執(zhí)行測試任務,能夠對硬件電路返回的測試數(shù)據(jù)進行收集分析處理,實現(xiàn)對模擬信號參數(shù)測量與數(shù)字電路邊界掃描測試。論文在需求分析基礎上給出軟件整體方案設計,然后分章節(jié)詳細介紹了各個功能模塊的設計實現(xiàn)過程。論文的主要研究內容如下:1.模擬BIT電路的信號參數(shù)測量及顯示。該部分包括對射頻模塊、中頻模塊、低頻模塊的參數(shù)測量,針對不同測量對象、不同測試模式,機內測試系統(tǒng)軟件設計了模擬BIT各類型控制命令及參數(shù),實現(xiàn)了對射頻信號的頻率、功率參數(shù)的大量程測量,中頻FM、AM信號的調制參數(shù)測量,以及8通道低頻信號參數(shù)測量。同時,根據(jù)用戶設定允許范圍,對測量結果進行判決和下發(fā)。2.數(shù)字BIT集成電路邊界掃描測試功能。通過對邊界掃描技術研究,以及對集成電路器件BSDL文件、PCB電路網(wǎng)表文件規(guī)范... 

【文章來源】：電子科技大學四川省 211工程院校 985工程院校 教育部直屬院校

【文章頁數(shù)】：81 頁

【學位級別】：碩士

【部分圖文】：

數(shù)字BITE測試界面設計

電子科技大學碩士學位論文22圖3-3指令寄存器的BSDL描述如圖3-3為XC6SLX16芯片指令寄存器的BSDL描述，文件首先描述了XC6SLX16芯片的指令長度為6位，然后分別給出了各指令的編碼，最后對指令寄存器的初始值進行了描述，從該描述中還可知SAMPLE（采樣）指令與PRELOAD（預裝載）指令相同。5）邊界掃描寄存器描述（BoundaryRegisterDescription），該部分內容是實現(xiàn)邊界掃測試的最重要信息，該部分內容在BSDL文件中所占篇幅最大也是文件最主要的部分。如圖3-4為XC6SLX16芯片邊界掃描寄存器的BSDL描述。圖3-4邊界掃描寄存器的BSDL描述文件首先描述了整個邊界掃描寄存器一共擁有744個邊界掃描單元，且根據(jù)邊界掃描單元在掃描鏈路中的位置將其編號為0-743。每一個單元描述包括了八個部分，其中cellnum代表邊界掃描單元在整個測試鏈路中的位置。type指掃描單元

電子科技大學碩士學位論文22圖3-3指令寄存器的BSDL描述如圖3-3為XC6SLX16芯片指令寄存器的BSDL描述，文件首先描述了XC6SLX16芯片的指令長度為6位，然后分別給出了各指令的編碼，最后對指令寄存器的初始值進行了描述，從該描述中還可知SAMPLE（采樣）指令與PRELOAD（預裝載）指令相同。5）邊界掃描寄存器描述（BoundaryRegisterDescription），該部分內容是實現(xiàn)邊界掃測試的最重要信息，該部分內容在BSDL文件中所占篇幅最大也是文件最主要的部分。如圖3-4為XC6SLX16芯片邊界掃描寄存器的BSDL描述。圖3-4邊界掃描寄存器的BSDL描述文件首先描述了整個邊界掃描寄存器一共擁有744個邊界掃描單元，且根據(jù)邊界掃描單元在掃描鏈路中的位置將其編號為0-743。每一個單元描述包括了八個部分，其中cellnum代表邊界掃描單元在整個測試鏈路中的位置。type指掃描單元

【參考文獻】：
期刊論文
[1]通信系統(tǒng)中射頻功率測量的應用[J]. 苗亮.  計算機產(chǎn)品與流通. 2019(02)
[2]構建Windows環(huán)境下Python GUI網(wǎng)絡編程實驗環(huán)境[J]. 劉海燕,馬振濤.  北華航天工業(yè)學院學報. 2018(04)
[3]Python網(wǎng)絡編程研究[J]. 葉鋒.  電腦編程技巧與維護. 2016(21)
[4]AM信號正交解調方法的性能分析[J]. 張勇,許憶南.  電子世界. 2013(13)
[5]邊界掃描測試技術發(fā)展綜述[J]. 劉九洲,王健.  電光與控制. 2013(02)
[6]BIT設計與發(fā)展綜述[J]. 董今朝,謝永成,李光升,魏寧.  微型機與應用. 2012(21)
[7]基于貝葉斯信息融合的解析余度輔助機內測試決策[J]. 池程芝,章衛(wèi)國,劉小雄.  控制與決策. 2012(10)
[8]基于信息熵的機內測試診斷策略優(yōu)化技術[J]. 張陟,王偉平,李宇.  計算機測量與控制. 2012(07)
[9]電子元器件封裝技術發(fā)展趨勢[J]. 黃慶紅.  電子與封裝. 2010(06)
[10]嵌入式計算機的BIT設計與實現(xiàn)[J]. 劉少雄,喻衛(wèi)東.  計算機工程. 2008(S1)

博士論文
[1]復雜裝備智能機內測試技術研究[D]. 王志穎.電子科技大學 2011

碩士論文
[1]復雜數(shù)字電路板的邊界掃描測試系統(tǒng)設計與實現(xiàn)[D]. 昌磊.電子科技大學 2019
[2]復雜電路邊界掃描測試向量生成與優(yōu)化方法研究[D]. 余宜璐.電子科技大學 2019
[3]基于機內測試的數(shù)控機床故障預測技術研究[D]. 蔡長亮.長春工業(yè)大學 2015
[4]基于邊界掃描測試技術的測試圖形生成的研究[D]. 劉建芳.江蘇大學 2006
[5]邊界掃描測試系統(tǒng)設計與實現(xiàn)[D]. 徐建潔.國防科學技術大學 2005
[6]基于邊界掃描的測試算法和BIST設計技術研究[D]. 段軍棋.電子科技大學 2004



本文編號：3549554