二維S變換在光學(xué)三維面形測(cè)量中的應(yīng)用
本文選題:測(cè)量 切入點(diǎn):三維面形測(cè)量 出處:《激光與光電子學(xué)進(jìn)展》2017年04期 論文類型:期刊論文
【摘要】:S變換具有時(shí)頻分析能力和多分辨率特點(diǎn),可以看作是窗口傅里葉變換和小波變換的擴(kuò)展。S變換不僅克服了傅里葉變換缺乏局部分析能力的不足,其變換系數(shù)又與待分析圖像的傅里葉譜之間存在緊密聯(lián)系,近年來被應(yīng)用于條紋分析中。根據(jù)S變換系數(shù)的特點(diǎn),深入研究了基于二維S變換的"脊"(2DSTR)分析方法和二維S變換"濾波"(2DSTF)分析方法,并對(duì)兩種方法進(jìn)行了詳細(xì)對(duì)比。計(jì)算機(jī)模擬和實(shí)驗(yàn)驗(yàn)證了理論分析結(jié)果,研究結(jié)果為二維S變換用于三維面形測(cè)量提供了指導(dǎo)。
[Abstract]:S transform has the characteristics of time-frequency analysis and multi-resolution. It can be regarded as the extended .S transform of window Fourier transform and wavelet transform, which not only overcomes the shortage of local analysis ability of Fourier transform. The transform coefficient is closely related to the Fourier spectrum of the image to be analyzed, and has been used in fringe analysis in recent years. The methods of "ridge" 2DSTR) analysis based on 2-D S transform and 2D S-transform "filter" 2DSTF analysis method are studied in depth, and the two methods are compared in detail. The results of theoretical analysis are verified by computer simulation and experiment. The results provide guidance for the application of two-dimensional S-transform in three-dimensional shape measurement.
【作者單位】: 四川大學(xué)電子信息學(xué)院光電系;
【基金】:國家重大科學(xué)儀器設(shè)備開發(fā)專項(xiàng)(2013YQ49087901)
【分類號(hào)】:TP391.41
【參考文獻(xiàn)】
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【共引文獻(xiàn)】
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