本文關(guān)鍵詞：基于威布爾分布模型及小子樣增廣的滾動(dòng)直線導(dǎo)軌副可靠性試驗(yàn)研究

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【摘要】：針對(duì)我國(guó)滾動(dòng)直線導(dǎo)軌副可靠性試驗(yàn)存在的問(wèn)題,結(jié)合機(jī)械產(chǎn)品本身的試驗(yàn)特性和失效特性,提出了基于威布爾分布模型和小子樣數(shù)據(jù)樣本增廣及分析方法。選取一家導(dǎo)軌產(chǎn)品開(kāi)展了加速壽命試驗(yàn),得到該款導(dǎo)軌產(chǎn)品的威布爾分布函數(shù)和概率密度函數(shù),方便分析研究,為以后進(jìn)行導(dǎo)軌可靠性試驗(yàn)分析樣本提供了一種思路。
【作者單位】： 南京理工大學(xué)機(jī)械工程學(xué)院;
【關(guān)鍵詞】： 滾動(dòng)直線導(dǎo)軌副 加速壽命試驗(yàn) 威布爾分布 小子樣
【基金】：國(guó)家科技重大專項(xiàng)(2014ZX04011031)
【分類號(hào)】：TH136;TB114.3
【正文快照】： 0引言機(jī)械可靠性是指機(jī)械產(chǎn)品在規(guī)定的使用條件下、規(guī)定的時(shí)間內(nèi)完成規(guī)定功能的能力[1]。對(duì)于機(jī)械產(chǎn)品來(lái)說(shuō),傳統(tǒng)的電子產(chǎn)品可靠性試驗(yàn)與分析方法并不能完全適用。日本工程師額田啟三[2]就曾提出機(jī)械產(chǎn)品的可靠性研究不適合通過(guò)大樣本的可靠性試驗(yàn)一次性給出結(jié)論的方法,而適合

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本文編號(hào)：757480