基于光學(xué)掃描法的長(zhǎng)導(dǎo)軌直線度測(cè)量方法研究
發(fā)布時(shí)間:2017-08-29 04:15
本文關(guān)鍵詞:基于光學(xué)掃描法的長(zhǎng)導(dǎo)軌直線度測(cè)量方法研究
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【摘要】:直線度誤差是導(dǎo)軌加工件的主要形位誤差。對(duì)于運(yùn)動(dòng)平臺(tái)導(dǎo)軌,直線度誤差直接影響著機(jī)床、測(cè)量機(jī)的精度。隨著超精密加工技術(shù)的不斷進(jìn)步,對(duì)導(dǎo)軌直線度測(cè)量的要求也越來(lái)越高。傳統(tǒng)的以直尺,重錘線等簡(jiǎn)易工具為測(cè)量手段的方法,雖然具有檢測(cè)器具簡(jiǎn)單、實(shí)施簡(jiǎn)便的優(yōu)點(diǎn),但測(cè)量精度不高、性能無(wú)法保證;而以激光準(zhǔn)直技術(shù)作為測(cè)量手段的現(xiàn)代測(cè)量方法,,雖然具有測(cè)量精度高、速度快的優(yōu)點(diǎn),但激光在現(xiàn)場(chǎng)環(huán)境中的應(yīng)用受到限制,且不便于已安裝到位的導(dǎo)軌的在位測(cè)量。 本論文采用基于位移傳感器的多測(cè)頭掃描法對(duì)長(zhǎng)導(dǎo)軌的直線度誤差的在位測(cè)量方法進(jìn)行研究,提出一種采用傾角補(bǔ)償?shù)?測(cè)頭掃描方法,可對(duì)被測(cè)導(dǎo)軌實(shí)施非接觸和連續(xù)快速掃描測(cè)量,重構(gòu)出的形狀可精確反映直線度誤差的高頻成分且對(duì)測(cè)量噪聲有較好抑制能力。本文首先對(duì)現(xiàn)有的導(dǎo)軌直線度掃描測(cè)量方法進(jìn)行介紹,接著詳細(xì)說(shuō)明了傾角補(bǔ)償式3點(diǎn)法的測(cè)量原理和仿真驗(yàn)證結(jié)果,隨后搭建實(shí)驗(yàn)系統(tǒng)對(duì)提出方法進(jìn)行了驗(yàn)證。針對(duì)開發(fā)的實(shí)驗(yàn)系統(tǒng)編寫了相應(yīng)的數(shù)據(jù)采集程序和采用最小二乘法的直線度重構(gòu)程序。對(duì)疊加量塊的導(dǎo)軌直線度實(shí)驗(yàn)結(jié)果表明,所提出方法可以準(zhǔn)確地還原出臺(tái)階狀的直線度形狀,測(cè)量精度在10微米以下。
【關(guān)鍵詞】:掃描測(cè)量 直線度 3測(cè)頭法 傾角補(bǔ)償 最小二乘法
【學(xué)位授予單位】:蘇州大學(xué)
【學(xué)位級(jí)別】:碩士
【學(xué)位授予年份】:2014
【分類號(hào)】:TH161;TG806
【目錄】:
- 中文摘要4-5
- Abstract5-8
- 第一章 緒論8-14
- 1.1 研究的背景8-9
- 1.2 導(dǎo)軌的直線度測(cè)量研究現(xiàn)狀9-13
- 1.2.1 直線度的基本概念9
- 1.2.2 導(dǎo)軌直線度傳統(tǒng)的測(cè)量方法9-11
- 1.2.3 基于激光準(zhǔn)直的導(dǎo)軌直線度測(cè)量方法11-12
- 1.2.4 基于雙頻激光干涉法的導(dǎo)軌直線度測(cè)量方法12
- 1.2.5 基于光學(xué)掃描法的導(dǎo)軌直線度測(cè)量方法12-13
- 1.3 研究?jī)?nèi)容13-14
- 第二章 導(dǎo)軌直線度測(cè)量的掃描方法研究14-23
- 2.1 基于掃描方法的導(dǎo)軌直線度測(cè)量概述14-18
- 2.1.1 反轉(zhuǎn)法14-15
- 2.1.2 移位法15
- 2.1.3 2 點(diǎn)法15-17
- 2.1.4 3 點(diǎn)法17-18
- 2.2 反轉(zhuǎn) 6 點(diǎn)法18-22
- 2.2.1 調(diào)零誤差18-19
- 2.2.2 反轉(zhuǎn) 6 點(diǎn)法測(cè)量原理19-22
- 2.2.3 方法分析22
- 2.3 小結(jié)22-23
- 第三章 傾角補(bǔ)償式 3 點(diǎn)法23-42
- 3.1 傾角補(bǔ)償式 3 點(diǎn)法原理23-25
- 3.2 估計(jì)精度25-30
- 3.3 仿真實(shí)驗(yàn)30-40
- 3.3.1 連續(xù)平滑曲線的仿真結(jié)果32-36
- 3.3.2 階躍突變曲線的仿真結(jié)果36-40
- 3.4 小結(jié)40-42
- 第四章 傾角補(bǔ)償式 3 點(diǎn)法實(shí)驗(yàn)研究42-65
- 4.1 實(shí)驗(yàn)系統(tǒng)總體說(shuō)明42-43
- 4.2 實(shí)驗(yàn)系統(tǒng)硬件部分43-50
- 4.2.1 工作臺(tái)44
- 4.2.2 被測(cè)導(dǎo)軌44
- 4.2.3 標(biāo)準(zhǔn)量塊44-45
- 4.2.4 光電開關(guān)45
- 4.2.5 位移傳感器45-47
- 4.2.6 傾角傳感器47-48
- 4.2.7 掃描平臺(tái)48
- 4.2.8 掃描驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)48-49
- 4.2.9 研華數(shù)據(jù)采集器49
- 4.2.10 工控機(jī)49-50
- 4.3 實(shí)驗(yàn)軟件部分說(shuō)明50-57
- 4.3.1 數(shù)據(jù)采集程序50-53
- 4.3.2 數(shù)據(jù)分析程序53-57
- 4.4 實(shí)驗(yàn)結(jié)果57-64
- 4.5 小結(jié)64-65
- 第五章 總結(jié)與展望65-67
- 5.1 總結(jié)65-66
- 5.2 展望66-67
- 參考文獻(xiàn)67-70
- 攻讀碩士學(xué)位期間已發(fā)表或錄用的論文70-71
- 附錄71-72
- 致謝72-73
【參考文獻(xiàn)】
中國(guó)期刊全文數(shù)據(jù)庫(kù) 前6條
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本文編號(hào):751253
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