隨著微電子工業(yè)和先進(jìn)制造技術(shù)的發(fā)展,設(shè)備的結(jié)構(gòu)越來越復(fù)雜,成本也越來越高。提高設(shè)備利用率對生產(chǎn)效率的改進(jìn)方面起著至關(guān)重要的作用,是降低生產(chǎn)成本的關(guān)鍵因素。本文主要研究的對象是半導(dǎo)體封裝測試工廠的設(shè)備故障數(shù)據(jù)。通過對歷史故障數(shù)據(jù)的分析,實(shí)現(xiàn)對設(shè)備故障的預(yù)測,從而對設(shè)備維修維護(hù)策略提供參考,最終實(shí)現(xiàn)提高設(shè)備利用率的目標(biāo)。本文研究的故障數(shù)據(jù)取自不同的串聯(lián)機(jī)械系統(tǒng),而不同的機(jī)械系統(tǒng)是由幾個,甚至十幾個不同的設(shè)備組成的。針對這樣復(fù)雜的數(shù)據(jù),本文主要利用時間序列的方法建立預(yù)測模型。把故障數(shù)據(jù)看成時間序列的一組動態(tài)數(shù)據(jù)。這些動態(tài)數(shù)據(jù)往往是非平穩(wěn)的,需要考慮對序列進(jìn)行平穩(wěn)化處理。針對數(shù)據(jù)非平穩(wěn)性的特點(diǎn),本文嘗試?yán)貌罘值姆椒▽?shù)據(jù)進(jìn)行平穩(wěn)化處理。平穩(wěn)化效果較為理想,故嘗試建立ARIMA預(yù)測模型,并進(jìn)行預(yù)測分析。預(yù)測分析結(jié)果表明了該方法的可行性。針對一些數(shù)據(jù)表現(xiàn)出階段性的趨勢,本文嘗試一種新的疊合預(yù)測模型。在這種疊合預(yù)測模型中,序列{Xt}被分解成確定性趨勢部分{mt}與隨機(jī)部分{Yt}的疊加。在實(shí)證研究中,把經(jīng)過預(yù)處理的故障數(shù)據(jù)看成時間序列的一組動態(tài)數(shù)據(jù)。對動態(tài)數(shù)據(jù)進(jìn)行分解,一組為確定性趨勢序列,用以... 

【文章來源】：電子科技大學(xué)四川省 211工程院校 985工程院校 教育部直屬院校

【文章頁數(shù)】：41 頁

【學(xué)位級別】：碩士

【文章目錄】：
摘要
ABSTRACT
第一章 引言
    1.1 研究的背景及意義
    1.2 國內(nèi)外研究現(xiàn)狀和發(fā)展態(tài)勢
    1.3 本文主要研究內(nèi)容與方法
    1.4 本章小結(jié)
第二章 ARIMA預(yù)測模型及實(shí)證研究
    2.1 ARIMA預(yù)測模型
        2.1.1 時間序列的分解
        2.1.2 ARMA模型的定義
        2.1.3 ARIMA模型的定義
        2.1.4 時間序列的平穩(wěn)性檢驗(yàn)
        2.1.5 ARMA模型階數(shù)的初定
        2.1.6 ARMA模型系數(shù)估計
        2.1.7 殘差序列白噪聲檢驗(yàn)
    2.2 實(shí)證研究
        2.2.1 ARIMA預(yù)測模型的基本步驟
        2.2.2 原始數(shù)據(jù)及預(yù)處理
        2.2.3 ARIMA模型的建立
        2.2.4 預(yù)測結(jié)果分析
    2.3 本章小結(jié)
第三章 ARMA與非線性自回歸的疊合預(yù)測模型及實(shí)證研究
    3.1 疊合預(yù)測模型結(jié)構(gòu)設(shè)計
    3.2 非線性自回歸預(yù)測模型
        3.2.1 非線性自回歸預(yù)測模型的定義
        3.2.2 模型的擬合優(yōu)度
        3.2.3 非線性自回歸預(yù)測模型的基本步驟
    3.3 實(shí)證研究
        3.3.1 原始數(shù)據(jù)及預(yù)處理
        3.3.2 非線性自回歸模型的建立及預(yù)測
        3.3.3 ARMA模型的建立及預(yù)測
        3.3.4 預(yù)測結(jié)果分析
    3.4 本章小結(jié)
第四章 總結(jié)與展望
    4.1 本文小結(jié)
    4.2 展望
致謝
參考文獻(xiàn)
攻讀碩士期間所取得的研究成果


【參考文獻(xiàn)】：
期刊論文
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本文編號：3461407