【摘要】：機電產(chǎn)品性能不斷提高的同時帶來了系統(tǒng)可靠性、測試性和維修性等問題。測試性設(shè)計技術(shù)從系統(tǒng)設(shè)計開始就對系統(tǒng)所需的測試和診斷資源進行合理的安排與配置,從而保證了系統(tǒng)的故障診斷能力。然而測試性設(shè)計輔助工具的缺乏影響了測試性設(shè)計的進一步發(fā)展。因此,本文開展了機電產(chǎn)品測試性輔助分析與決策相關(guān)技術(shù)的研究,主要工作如下: 1.測試性信息描述模型為系統(tǒng)設(shè)計和測試性設(shè)計提供了信息交流機制,基于建模語言EXPRESS-G構(gòu)造了測試性信息描述模型,利用該模型將所得的測試性信息采用數(shù)據(jù)庫進行存儲,為測試性設(shè)計打下了基礎(chǔ)。 2.針對測試方案構(gòu)造中的測試選擇問題,描述了測試選擇優(yōu)化問題的數(shù)學(xué)模型,并對測試選擇解空間分布進行分析,構(gòu)造了測試懲罰函數(shù)和評價函數(shù)。最后提出一種基于遺傳算法的測試選擇求解方法,為系統(tǒng)測試選擇提供了比較好的實現(xiàn)技術(shù)。研究表明,該算法適應(yīng)性好,計算效率高,能獲得最佳測試選擇結(jié)果。 3.針對測試序列優(yōu)化問題,利用測試性信息矩陣構(gòu)造了測試序列的代價評估函數(shù),分析了測試序列優(yōu)化求解方法。采用基于Huffman編碼和條件熵的啟發(fā)式評估函數(shù),構(gòu)造并實現(xiàn)了AO~*算法。通過算例驗證了算法的有效性,從而大大簡化了問題的求解。 4.根據(jù)測試性設(shè)計的需求,對測試性信息描述、測試選擇優(yōu)化和測試序列優(yōu)化等功能模塊進行集成,開發(fā)了測試性輔助設(shè)計平臺——測試性輔助分析與決策系統(tǒng)。為測試性設(shè)計提供了簡便有效的工具。并利用它對機電跟蹤與穩(wěn)定伺服平臺進行測試性設(shè)計,得到了較好的效果。
【學(xué)位授予單位】：國防科學(xué)技術(shù)大學(xué)
【學(xué)位級別】：碩士
【學(xué)位授予年份】：2004
【分類號】：TH17
【圖文】：

為獲得可行的測試方案配置，必須首先使rDF、rFI和r。滿足規(guī)定的要求。不失一般性，我們分別以rDF為橫軸、rFI為縱軸來研究滿足測試性指標要求的可行測試方案區(qū)域，如圖3一6所示。由圖3一6，根據(jù)設(shè)定的rDF和rFI值，可將所有可能的備選測試集劃分為4個區(qū)域，分別用工、工I、I工I、工v表示。顯然，要使故障檢測率和故障隔離率滿足規(guī)定要求，可行的廠DF圖3一6可行測試方案解區(qū)，|川日|川日|||||||||0廠測試集必須位于區(qū)域工內(nèi)。在實際進行測試方案求解的過程中，我們事先很難知道各個區(qū)域內(nèi)測試集的分布情況，很多時候，區(qū)域I內(nèi)可能不存在可行解

國防科學(xué)技術(shù)大學(xué)研究生院學(xué)位論文AO*診斷決策樹如圖4一5所示。根據(jù)上一章中阿波羅號發(fā)射前的檢測例子所得測試集Tor=t{tl，t，，，t，。，t，:}，采用“貪婪”啟發(fā)式搜索和AO*法進行診斷測試策略生成。假設(shè)故障概率P=[0.01，0.02，0.03

【引證文獻】

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1 徐東;裝備綜合保障關(guān)鍵技術(shù)研究[D];國防科學(xué)技術(shù)大學(xué);2006年

本文編號：2715358