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硬件測試中自動控制板卡電壓拉偏的方法

發(fā)布時間:2017-06-05 16:27

  本文關鍵詞:硬件測試中自動控制板卡電壓拉偏的方法,由筆耕文化傳播整理發(fā)布。


【摘要】:在硬件板卡設計中,對硬件板卡的供電電壓范圍都有一定的要求,為了方便驗證同一批次產品中每張板卡供電電壓范圍的一致性及板卡跌落電壓檢測電路是否能有效工作,利用TPS5430DDA開關電源芯片提出了一種板卡拉偏電壓自動控制的方法。該方法易于實現,電路簡單,可應用于整個生產測試環(huán)節(jié)。
【作者單位】: 成都理工大學工程技術學院電計系;
【關鍵詞】TPSDDA 硬件板卡 電壓拉偏 電壓跌落
【分類號】:TP332
【正文快照】: 0引言在大多數板卡設計中,針對客戶對硬件板卡供電范圍的要求,需要在研發(fā)階段進行驗證。因此,對批量硬件板卡相關指標的測試尤為重要,其主要工作就是對工作電源電壓進行拉偏控制,并對電壓跌落信號進行測試。本文以某主板測試案例為例,說明測試中自動控制板卡電壓拉偏的方法。

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本文編號:424106

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