隨著芯片的設(shè)計越來越復(fù)雜,前期RTL級功能驗證在芯片開發(fā)過程中愈發(fā)重要�；赨SB接口的電子產(chǎn)品在日常生活中被普遍使用,為滿足大規(guī)模存儲快速發(fā)展的需求,USB組織不斷進行技術(shù)升級,USB標(biāo)準(zhǔn)協(xié)議已經(jīng)由1.0、2.0、3.0發(fā)展到3.1,其數(shù)據(jù)傳輸速度已提升至1OGb每秒。隨著性能的大幅提升,為了確保SoC芯片功能的正確性,對USB 3.1 IP進行完備的功能驗證十分必要。針對上述情況,本論文對目前廣泛使用的驗證方法學(xué)進行了分析,由SystemVerilog發(fā)展而來的UVM驗證架構(gòu),以其可擴展性和可復(fù)用性而被多家IC設(shè)計公司采用,是目前業(yè)內(nèi)最先進的驗證方法學(xué)。根據(jù)項目特點和驗證需求,本論文選擇了 UVM方法學(xué)來實現(xiàn)USB 3.1的功能驗證。在驗證環(huán)境的實現(xiàn)過程中,首先對USB 3.1協(xié)議進行研究與分析,包括協(xié)議中規(guī)定的USB3.1系統(tǒng)架構(gòu)以及物理層、鏈路層、協(xié)議層內(nèi)容,并根據(jù)協(xié)議內(nèi)容及項目需求提出功能測試點。之后根據(jù)功能測試點規(guī)劃驗證環(huán)境,使用基于UVM的驗證組件搭建驗證平臺,并使用UVM提供的TLM方法完成了各個驗證組件之間的連接,使環(huán)境中形成完整的數(shù)據(jù)通路。之后針對提出的功能測試點編...

【文章頁數(shù)】：81 頁

【學(xué)位級別】：碩士

【文章目錄】：
摘要
ABSTRACT
縮略語對照表
第一章 緒論
    1.1 研究背景與意義
    1.2 國內(nèi)外發(fā)展現(xiàn)狀
        1.2.1 USB協(xié)議進展
        1.2.2 驗證語言進展
    1.3 研究目標(biāo)與內(nèi)容
    1.4 論文章節(jié)安排
第二章 功能驗證和UVM方法學(xué)研究
    2.1 功能驗證的意義
    2.2 UVM驗證方法學(xué)研究
        2.2.1 驗證平臺基本架構(gòu)
        2.2.2 基于UVC的驗證平臺綜述
    2.3 UVM驗證環(huán)境常用的方法
    2.4 本章小結(jié)
第三章 USB 3.1功能研究與驗證需求分析
    3.1 USB 3.1體系結(jié)構(gòu)與標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范
        3.1.1 USB 3.1系統(tǒng)概述
        3.1.2 USB 3.1與USB 2.0總線性能差異
    3.2 USB 3.1通信結(jié)構(gòu)分析
        3.2.1 USB 3.1分層結(jié)構(gòu)模型
        3.2.2 USB 3.1物理層研究
        3.2.3 USB 3.1鏈路層研究
        3.2.4 USB 3.1協(xié)議層研究
    3.3 USB 3.1數(shù)據(jù)傳輸分析
        3.3.1 USB 3.1傳輸協(xié)議改進
        3.3.2 USB 3.1數(shù)據(jù)流方向
        3.3.3 USB 3.1數(shù)據(jù)包類型
        3.3.4 USB 3.1數(shù)據(jù)傳輸類型
    3.4 驗證需求分析
    3.5 項目背景及開展流程
        3.5.1 USB 3.1系統(tǒng)驗證項目背景
        3.5.2 驗證工作開展流程及規(guī)劃
    3.6 本章小結(jié)
第四章 USB 3.1驗證環(huán)境設(shè)計
    4.1 USB 3.1系統(tǒng)級設(shè)計架構(gòu)
    4.2 環(huán)境中的數(shù)據(jù)通路
        4.2.1 讀USB設(shè)備
        4.2.2 寫USB設(shè)備
    4.3 USB 3.1系統(tǒng)級驗證環(huán)境設(shè)計
        4.3.1 驗證組件架構(gòu)設(shè)計
        4.3.2 配置UVC
    4.4 編寫測試激勵
        4.4.1 鏈路層sequence設(shè)計
        4.4.2 數(shù)據(jù)傳輸sequence設(shè)計
    4.5 隨機化測試用例設(shè)計
        4.5.1 測試用例標(biāo)準(zhǔn)結(jié)構(gòu)
        4.5.2 參數(shù)化的隨機測試用例
    4.6 斷言模塊設(shè)計
        4.6.1 斷言設(shè)計流程
        4.6.2 功能序列斷言
        4.6.3 基于UVC的信號狀態(tài)監(jiān)測斷言
    4.7 本章小結(jié)
第五章 仿真與覆蓋率分析
    5.1 仿真方案與結(jié)果
        5.1.1 仿真方案
        5.1.2 仿真結(jié)果
    5.2 仿真bug舉例
    5.3 收集覆蓋率
        5.3.1 覆蓋率概述
        5.3.2 添加覆蓋組
        5.3.3 覆蓋率結(jié)果
    5.4 本章小結(jié)
第六章 總結(jié)與展望
    6.1 工作總結(jié)
    6.2 后續(xù)展望
參考文獻
致謝
作者簡介



本文編號：3984541