近年來(lái),隨著信息技術(shù)的發(fā)展,數(shù)據(jù)存儲(chǔ)量持續(xù)增長(zhǎng)。專家們認(rèn)為,目前信息技術(shù)已經(jīng)進(jìn)入以存儲(chǔ)為核心的發(fā)展階段。隨著存儲(chǔ)軟硬件規(guī)模的擴(kuò)大,存儲(chǔ)設(shè)備的兼容性問(wèn)題成為目前用戶最關(guān)心的問(wèn)題。存儲(chǔ)產(chǎn)品兼容性測(cè)試的需求日益突出。 當(dāng)前對(duì)存儲(chǔ)兼容性測(cè)試進(jìn)行研究,有助于對(duì)存儲(chǔ)兼容性測(cè)試進(jìn)行全面了解,提升存儲(chǔ)兼容性測(cè)試的質(zhì)量。兼容性測(cè)試雖然無(wú)法做到完全的質(zhì)量保證,但兼容性測(cè)試是存儲(chǔ)產(chǎn)品測(cè)試必不可少的重要步驟之一。因此,對(duì)存儲(chǔ)產(chǎn)品來(lái)說(shuō),忽視其兼容性測(cè)試,必將會(huì)導(dǎo)致用戶在使用時(shí)因兼容性出現(xiàn)故障的概率較高。所以,如何在有限的成本和資源考慮下,針對(duì)產(chǎn)品規(guī)劃出適當(dāng)?shù)募嫒菪詼y(cè)試,是所有兼容性測(cè)試技術(shù)人員關(guān)注的重點(diǎn)。 本文在“存儲(chǔ)解決方案與兼容性測(cè)試”項(xiàng)目的支持下,對(duì)存儲(chǔ)基本兼容性和VxVM兼容性測(cè)試進(jìn)行了詳細(xì)設(shè)計(jì)與實(shí)現(xiàn),并提出了兩種快速有效的故障診斷策略。本文的主要研究?jī)?nèi)容如下: (1)針對(duì)存儲(chǔ)產(chǎn)品的應(yīng)用特點(diǎn),分析了其兼容性測(cè)試需求,制定了基本兼容性測(cè)試用例設(shè)計(jì)框架,并使用配對(duì)組合覆蓋技術(shù)設(shè)計(jì)了基本兼容性的測(cè)試案例。該方法可生成最小組合覆蓋測(cè)試案例集,從而大大降低測(cè)試成本,提高測(cè)試效率。 (2)針對(duì)存儲(chǔ)兼容性測(cè)試缺陷定位...

【文章頁(yè)數(shù)】：73 頁(yè)

【學(xué)位級(jí)別】：碩士

【部分圖文】：

圖2-1RAID0(2)RAID1RAID1也稱鏡像陣列，是通過(guò)磁盤(pán)數(shù)據(jù)鏡像實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)冗余，在成對(duì)的獨(dú)立磁

圖2-1RAID0陣列，是通過(guò)磁盤(pán)數(shù)據(jù)鏡像實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)數(shù)據(jù)，如圖2-2所示。當(dāng)原始數(shù)據(jù)繁忙ID1可以提高讀取性能。RAID1是磁數(shù)據(jù)安全性和可用性。當(dāng)一個(gè)磁盤(pán)失，而不需要重組失效的數(shù)據(jù)。RAID1，如金融系統(tǒng)、財(cái)務(wù)統(tǒng)計(jì)與數(shù)據(jù)庫(kù)存儲(chǔ)種真正的RAID系統(tǒng)，它提供了強(qiáng)有為....

圖2-2RAID1(3)RAID2RAID2將磁盤(pán)分為數(shù)據(jù)盤(pán)和校驗(yàn)盤(pán)

圖2-2RAID1為數(shù)據(jù)盤(pán)和校驗(yàn)盤(pán)。用戶數(shù)據(jù)按位或不是以數(shù)據(jù)塊為單位，校驗(yàn)盤(pán)上存放了能進(jìn)行即時(shí)的數(shù)據(jù)校驗(yàn)而研制的一以保證數(shù)據(jù)安全，以及針對(duì)當(dāng)時(shí)對(duì)數(shù)金融服務(wù)等。但由于花費(fèi)太大，成本的即時(shí)校驗(yàn)RAID來(lái)代替，如RAID3、D2的基礎(chǔ)上發(fā)展而來(lái)的，主要的變化相對(duì)復(fù)雜的海明碼....

圖2-3RAID5(7)RAID10RAID10是RAID0和RAID1的組合形式

圖2-3RAID50和RAID1的組合形式。以四個(gè)盤(pán)為再對(duì)2個(gè)RAID1進(jìn)行條帶化�？梢钥窗�，既可以提供與RAID1一樣的數(shù)儲(chǔ)性能。因此，RAID10的特點(diǎn)使其數(shù)據(jù)安全性要求很高的領(lǐng)域，如銀行

圖5-3IOmeter測(cè)試

圖5-3IOmeter測(cè)試3測(cè)試環(huán)境搭建測(cè)試環(huán)境，包括安裝操作系統(tǒng)、安裝測(cè)試所要求的網(wǎng)卡或HBA卡及其、連接存儲(chǔ)產(chǎn)品與服務(wù)器(DAS、SAN等方式)以及通過(guò)設(shè)置網(wǎng)絡(luò)使存儲(chǔ)產(chǎn)品與器連通、根據(jù)測(cè)試對(duì)操作系統(tǒng)的需求進(jìn)行設(shè)置、測(cè)試工具的安裝等。(1)硬件環(huán)境存儲(chǔ)設(shè)備、服務(wù)....

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