SoC技術(shù)給VLSI的設(shè)計(jì)帶來(lái)了一場(chǎng)革命，它大大提高了芯片的產(chǎn)量，顯著地縮短了芯片的開(kāi)發(fā)周期。SoC技術(shù)使得芯片的集成度和速度迅速提高，芯片測(cè)試的復(fù)雜性和測(cè)試數(shù)據(jù)量隨之激增，而另一方面自動(dòng)測(cè)試設(shè)備的帶寬卻非常有限，導(dǎo)致SoC的測(cè)試時(shí)間過(guò)長(zhǎng)，測(cè)試成本急劇上升，SoC測(cè)試面臨著嚴(yán)峻的挑戰(zhàn)。 目前解決這類問(wèn)題的一種有效技術(shù)為SoC測(cè)試源劃分。測(cè)試源劃分技術(shù)主要分為三類：測(cè)試集生成算法壓縮、BIST和測(cè)試數(shù)據(jù)編碼壓縮技術(shù)。本論文主要研究的對(duì)象為測(cè)試數(shù)據(jù)編碼壓縮技術(shù)。 由于對(duì)確定位分布不平衡的多掃描鏈測(cè)試集使用模式相容壓縮的效果不理想。對(duì)此問(wèn)題，本文提出了基于多掃描鏈結(jié)構(gòu)的分組標(biāo)準(zhǔn)向量差分壓縮方法，該方法把測(cè)試集按多掃描鏈結(jié)構(gòu)排列后，根據(jù)測(cè)試向量之間相同的內(nèi)部模式相容關(guān)系將測(cè)試集劃分為若干組，再分別對(duì)各組進(jìn)行模式相容壓縮。接著轉(zhuǎn)置測(cè)試模式，使用標(biāo)準(zhǔn)向量差分方法實(shí)現(xiàn)測(cè)試模式的差分，再用距離標(biāo)記游程編碼對(duì)差分序列進(jìn)行編碼壓縮，獲得了比FDR編碼更高的壓縮率，同時(shí)測(cè)試模式差分時(shí)所用的CSR數(shù)量大大低于FDR編碼。 隨后本文提出測(cè)試數(shù)據(jù)分組字典統(tǒng)計(jì)編碼方法。該方法將測(cè)試向量以固定長(zhǎng)度劃分為若干個(gè)數(shù)據(jù)字段...

【文章頁(yè)數(shù)】：64 頁(yè)

【學(xué)位級(jí)別】：碩士

【部分圖文】：

圖2一6由測(cè)試字段生成的Hufflllan樹(shù)

根據(jù)各個(gè)測(cè)試字段的出現(xiàn)頻率，構(gòu)建出Huffinan樹(shù):再依據(jù)Huffinan樹(shù)中各個(gè)葉子節(jié)點(diǎn)的路徑生成表2一3中各測(cè)試字段的Huf’Ihlan碼字，Huffillan樹(shù)的結(jié)構(gòu)如圖2一6所示。圖2一6由測(cè)試字段生成的Hufflllan樹(shù)在Huflhlan選擇編碼方法中，各測(cè)試字段....

圖2一7由選擇字段生成的Huffinan選擇樹(shù)

Huffillan選擇樹(shù)的結(jié)構(gòu)如圖2一7所示。Huffinan選擇碼的首位代表此碼字是否被選擇編碼，被選擇編碼的字段其碼字首位為“1”，隨后是由Huffinan選擇樹(shù)生成的尾部編碼;而未被編碼的字段其碼字首位為“0”，隨后是原測(cè)試字段。本例子中Huffillan選擇碼的碼字如表2....

本文編號(hào)：3924940