SoC技術給VLSI的設計帶來了一場革命，它大大提高了芯片的產(chǎn)量，顯著地縮短了芯片的開發(fā)周期。SoC技術使得芯片的集成度和速度迅速提高，芯片測試的復雜性和測試數(shù)據(jù)量隨之激增，而另一方面自動測試設備的帶寬卻非常有限，導致SoC的測試時間過長，測試成本急劇上升，SoC測試面臨著嚴峻的挑戰(zhàn)。 目前解決這類問題的一種有效技術為SoC測試源劃分。測試源劃分技術主要分為三類：測試集生成算法壓縮、BIST和測試數(shù)據(jù)編碼壓縮技術。本論文主要研究的對象為測試數(shù)據(jù)編碼壓縮技術。 由于對確定位分布不平衡的多掃描鏈測試集使用模式相容壓縮的效果不理想。對此問題，本文提出了基于多掃描鏈結構的分組標準向量差分壓縮方法，該方法把測試集按多掃描鏈結構排列后，根據(jù)測試向量之間相同的內(nèi)部模式相容關系將測試集劃分為若干組，再分別對各組進行模式相容壓縮。接著轉置測試模式，使用標準向量差分方法實現(xiàn)測試模式的差分，再用距離標記游程編碼對差分序列進行編碼壓縮，獲得了比FDR編碼更高的壓縮率，同時測試模式差分時所用的CSR數(shù)量大大低于FDR編碼。 隨后本文提出測試數(shù)據(jù)分組字典統(tǒng)計編碼方法。該方法將測試向量以固定長度劃分為若干個數(shù)據(jù)字段...

【文章頁數(shù)】：64 頁

【學位級別】：碩士

【部分圖文】：

圖2一6由測試字段生成的Hufflllan樹

根據(jù)各個測試字段的出現(xiàn)頻率，構建出Huffinan樹:再依據(jù)Huffinan樹中各個葉子節(jié)點的路徑生成表2一3中各測試字段的Huf’Ihlan碼字，Huffillan樹的結構如圖2一6所示。圖2一6由測試字段生成的Hufflllan樹在Huflhlan選擇編碼方法中，各測試字段....

圖2一7由選擇字段生成的Huffinan選擇樹

Huffillan選擇樹的結構如圖2一7所示。Huffinan選擇碼的首位代表此碼字是否被選擇編碼，被選擇編碼的字段其碼字首位為“1”，隨后是由Huffinan選擇樹生成的尾部編碼;而未被編碼的字段其碼字首位為“0”，隨后是原測試字段。本例子中Huffillan選擇碼的碼字如表2....

本文編號：3924940