隨著集成電路規(guī)模和復雜度的不斷增大,在集成電路設計中,功能驗證的作用越來越重要,是保證芯片流片是否成功的關鍵性因素。在功能驗證中對寄存器的驗證是保障后續(xù)驗證工作順利進行的重要一環(huán),同時也是非常繁瑣和容易出錯的。 本文的主要內容是利用VMM（Verification Methodology Manual）中的寄存器/存儲器抽象層驗證技術和解決方案——RAL（Register Abstraction Layer）,開發(fā)出一種驗證寄存器功能的自動化、可復用的方法,并利用此方法完成了項目中寄存器的驗證。本文首先研究了VMM驗證方法學和RAL,然后,在此基礎上重點講述了此驗證方法的開發(fā)過程,包括RAL模型產(chǎn)生器的設計和驗證方法的實現(xiàn),接著,使用此方法完成了對項目中寄存器的驗證,包括RAL環(huán)境的集成,驗證寄存器的初始值、復位功能、讀寫屬性、耦合關系,最后給出仿真波形、驗證結果和覆蓋率統(tǒng)計,其中驗證結果全部passed,覆蓋率達到了100%。 

【文章頁數(shù)】：97 頁

【學位級別】：碩士

【部分圖文】：

讀寄存器仿真時序圖

寫寄存器仿真時序圖

仿真結果

【參考文獻】：
期刊論文
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碩士論文
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本文編號：3696682