隨著硬件技術(shù)的不斷發(fā)展,嵌入式軟件開發(fā)成為嵌入式開發(fā)的關(guān)鍵。在嵌入式軟件開發(fā)中,調(diào)試是不可缺少的重要階段,對嵌入式開發(fā)的作用日益突出,相關(guān)研究、技術(shù)也不斷更新。然而嵌入式調(diào)試技術(shù)的實(shí)現(xiàn)由于受處理器、操作系統(tǒng)類型等影響,普遍具有專用性。因此在進(jìn)行嵌入式系統(tǒng)開發(fā)之前,先進(jìn)行調(diào)試技術(shù)的研究與實(shí)現(xiàn)就具有重要意義。本論文的主要工作是對當(dāng)前兩種主流的交叉調(diào)試技術(shù)即目標(biāo)監(jiān)控程序調(diào)試技術(shù)和片上調(diào)試技術(shù)進(jìn)行研究與實(shí)現(xiàn)。在目標(biāo)監(jiān)控程序調(diào)試技術(shù)方面,根據(jù)Windows CE目標(biāo)監(jiān)控程序調(diào)試技術(shù)的總體框架對幾個(gè)主要組成部分的具體實(shí)現(xiàn)進(jìn)行詳細(xì)地闡述。Windows CE目標(biāo)監(jiān)控程序調(diào)試技術(shù)包括操作系統(tǒng)調(diào)試和用戶應(yīng)用程序調(diào)試。其中,操作系統(tǒng)調(diào)試采用KITL調(diào)試技術(shù),支持在多種通信端口上進(jìn)行調(diào)試,考慮到USB端口在嵌入式平臺的廣泛應(yīng)用,在Windows CE5.0操作系統(tǒng)基礎(chǔ)上開發(fā)了基于USB端口的RNDIS驅(qū)動(dòng),并將它集成在KITL中,實(shí)現(xiàn)了RNDIS KITL;用戶應(yīng)用程序調(diào)試中主機(jī)端借助于ActiveSync軟件,目標(biāo)機(jī)端在Windows CE操作系統(tǒng)中實(shí)現(xiàn)了ActiveSync支持。在片上調(diào)試技術(shù)方面,根據(jù)... 

【文章來源】：廈門大學(xué)福建省211工程院校985工程院校教育部直屬院校

【文章頁數(shù)】：77 頁

【學(xué)位級別】：碩士

【文章目錄】：
摘要
ABSTRACT
第1章 緒論
    1.1 研究背景
    1.2 嵌入式調(diào)試方案
    1.3 關(guān)鍵技術(shù)及研究現(xiàn)狀
        1.3.1 目標(biāo)監(jiān)控程序調(diào)試技術(shù)
        1.3.2 片上調(diào)試技術(shù)
    1.4 主要研究內(nèi)容
第2章 交叉調(diào)試技術(shù)基礎(chǔ)
    2.1 交叉調(diào)試簡介
        2.1.1 交叉調(diào)試架構(gòu)
        2.1.2 交叉調(diào)試特點(diǎn)
    2.2 GDB調(diào)試系統(tǒng)
    2.3 KITL調(diào)試技術(shù)
    2.4 ActiveSync調(diào)試通道
    2.5 RNDIS協(xié)議
    2.6 EBOOT引導(dǎo)程序
    2.7 調(diào)試工具介紹
    2.8 本章小結(jié)
第3章 Windows CE目標(biāo)監(jiān)控程序調(diào)試技術(shù)實(shí)現(xiàn)
    3.1 總體框架
    3.2 硬件實(shí)現(xiàn)
        3.2.1 USB設(shè)備控制器
        3.2.2 電路連接
    3.3 RNDIS驅(qū)動(dòng)實(shí)現(xiàn)
        3.3.1 總體架構(gòu)
        3.3.2 RNDIS主機(jī)驅(qū)動(dòng)
        3.3.3 RNDIS設(shè)備驅(qū)動(dòng)
    3.4 RNDIS EBOOT實(shí)現(xiàn)
        3.4.1 代碼開發(fā)
        3.4.2 調(diào)試及驗(yàn)證
    3.5 RNDIS KITL實(shí)現(xiàn)
    3.6 ActiveSync實(shí)現(xiàn)
    3.7 本章小結(jié)
第4章 基于 JTAG的片上調(diào)試技術(shù)實(shí)現(xiàn)
    4.1 總體框架
    4.2 硬件實(shí)現(xiàn)
        4.2.1 硬件框架
        4.2.2 JTAG調(diào)試接口模塊
        4.2.3 調(diào)試單元
    4.3 軟件實(shí)現(xiàn)
        4.3.1 OR1200處理器的JTAG調(diào)試支持
        4.3.2 JTAG Server
    4.4 系統(tǒng)測試
        4.4.1 硬件仿真
        4.4.2 軟件測試
    4.5 本章小結(jié)
第5章 總結(jié)與展望
    5.1 工作總結(jié)
    5.2 工作展望
參考文獻(xiàn)
碩士期間發(fā)表的論文
致謝


【參考文獻(xiàn)】：
期刊論文
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碩士論文
[1]嵌入式系統(tǒng)調(diào)試技術(shù)的分析與設(shè)計(jì)[D]. 黃紅燕.浙江大學(xué) 2006
[2]嵌入式交叉調(diào)試技術(shù)的研究與實(shí)現(xiàn)[D]. 魏勇.電子科技大學(xué) 2005



本文編號：3639756